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1. (WO2018002225) ANORDNUNG ZUR MIKROSKOPIE UND ZUR KORREKTUR VON ABERRATIONEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2018/002225    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2017/066136
Veröffentlichungsdatum: 04.01.2018 Internationales Anmeldedatum: 29.06.2017
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/16 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01), G02B 21/02 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE)
Erfinder: SIEBENMORGEN, Jörg; (DE).
LIPPERT, Helmut; (DE).
KALKBRENNER, Thomas; (DE).
KLEPPE, Ingo; (DE).
WOLLESCHENSKY, Ralf; (DE).
DEGEN, Artur; (DE).
WALD, Matthias; (DE).
WITTIG, Lars-Christian; (DE).
GÖLLES, Michael; (DE).
SINGER, Wolfgang; (DE)
Vertreter: LORITZ, Rainer; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2016 212 020.4 01.07.2016 DE
Titel (DE) ANORDNUNG ZUR MIKROSKOPIE UND ZUR KORREKTUR VON ABERRATIONEN
(EN) ARRANGEMENT FOR MICROSCOPY AND FOR CORRECTION OF ABERRATIONS
(FR) DISPOSITIF DE MICROSCOPIE ET POUR LA CORRECTION D'ABERRATIONS
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Anordnung(1)zur Mikroskopie, umfassendeine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv(2) zur Beleuchtung einer auf einem Probenträger(7)in einem Probenbereich einer Probenebene(4)befindlichen Probe (5) über einen Beleuchtungsstrahlengang, wobeidie optische Achse (A1) des Beleuchtungsobjektivs (2)in einer Ebeneliegt, die mit der Normalen einer Probenebene(4), hinsichtlich welcher der Probenträger(7)ausgerichtet ist, einen von Null verschiedenen Beleuchtungswinkel (α1) einschließt, und die Beleuchtung in der Ebene erfolgt. Ferner ist eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (3) in einem Detektionsstrahlengangvorhanden, dessen optische Achse (A2) mit der Normalen der Probenebene (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel(α2) einschließt. Das Beleuchtungsobjektiv (2) und/oderdas Detektionsobjektiv (3) umfasstein im Strahlengang angeordnetes Beleuchtungskorrekturelement(2KE) und/oder ein Detektionskorrekturelement(3KE). Erfindungsgemäß ist zwischen dem Probenträger(7) und den Objektiven(2,3) eine Meniskuslinse(10) vorhanden, die sowohl in dem Beleuchtungsstrahlengang als auch in dem Detektionsstrahlengang angeordnet undzur Korrektur von Aberrationen ausgebildetist. Das Beleuchtungskorrekturelement(2KE) und/oder das Detektionskorrekturelement(3KE) ist/sindzur Korrektur von verbliebenen Aberrationenausgebildet.
(EN)The invention relates to an arrangement (1) for microscopy, comprising an illumination optical unit having an illumination lens (2) for illuminating a sample (5) located on a sample holder (7) in a sample area of a sample plane (4) by means of an illumination beam path, wherein the optical axis (A1) of the illumination lens (2) lies in a plane that forms a non-zero illumination angle (α1) with the normal to a sample plane (4) with respect to which the sample holder (7) is oriented, and the illumination is effected in the plane. Further, there is a detection optical unit having a detection lens (3) in a detection beam path, the optical axis (A2) of which forms a non-zero detection angle (α2) with the normal to the sample plane (4). The illumination lens (2) and/or the detection lens (3) comprises an illumination correction element (2KE) and/or a detection correction element (3KE) arranged in the beam path. According to the invention, the sample holder (7) and the lenses (2, 3) have a meniscus lens (10) between them that is arranged both in the illumination beam path and in the detection beam path and is configured to correct aberrations. The illumination correction element (2KE) and/or the detection correction element (3KE) is/are configured to correct remaining aberrations.
(FR)L'invention concerne un dispositif (1) de microscopie, comprenant un dispositif optique d'éclairage pourvu d'un objectif d'éclairage (2) pour éclairer un échantillon (5) se trouvant sur un support (7) d'échantillon dans une zone d'échantillon d'un plan (4) d'échantillon via un trajet d'optique d'éclairage, l'axe optique (A1) de l'objectif d'éclairage (2) étant situé dans un plan, qui forme un angle d'éclairage (α1) différent de zéro avec la normale d'un plan (4) d'échantillon par rapport auquel le support (7) d'échantillon est orienté, et l'éclairage ayant lieu dans le plan. En outre, le dispositif comprend un dispositif optique de détection pourvu d'un objectif de détection (3) dans un trajet optique de détection dont l'axe optique (A2) forme un angle de détection (α2) différent de zéro avec la normale du plan (4) d'échantillon. Le dispositif d'éclairage (2) et/ou l'objectif de détection (3) comprend/comprennent un élément (2KE) de correction d'éclairage et/ou un élément (3KE) de correction de détection disposé(s) dans le trajet optique. Selon l'invention, une lentille ménisque (10) est située entre le support (7) d'échantillon et les objectifs (2, 3), disposée dans le trajet optique d'éclairage ainsi que dans le trajet optique de détection et conçue pour la correction d'aberrations. L'élément (2KE) de correction d'éclairage et/ou l'élément (3KE) de correction de détection est/sont conçu(s) pour la correction d'aberrations résiduelles.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)