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1. (WO2018001734) VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2018/001734    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2017/064505
Veröffentlichungsdatum: 04.01.2018 Internationales Anmeldedatum: 14.06.2017
IPC:
G01J 5/08 (2006.01), G01J 5/02 (2006.01), G01J 5/06 (2006.01), G01J 5/52 (2006.01), G01J 5/62 (2006.01), G01J 5/00 (2006.01), H04N 5/33 (2006.01), H04N 5/365 (2011.01)
Anmelder: ROBERT BOSCH GMBH [DE/DE]; Postfach 30 02 20 70442 Stuttgart (DE)
Erfinder: FRANK, Michael; (DE).
SENZ, Volkmar; (DE).
BADEJA, Michael; (DE).
RUMBERG, Axel; (DE).
KRUEGER, Michael; (DE).
DITTMER, Helge; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2016 211 812.9 30.06.2016 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM
(EN) METHOD FOR DETERMINING A TEMPERATURE WITHOUT CONTACT AND INFRARED MEASURING SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE SANS CONTACT D’UNE TEMPÉRATURE AINSI QUE SYSTÈME DE MESURE PAR INFRAROUGE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Das vorgeschlagene Verfahren zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche (22), insbesondere zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperaturverteilung einer Oberfläche (22), geht aus von einem Infrarot-Messsystem (10, 10a), das zumindest aufweist: - ein Infrarot-Detektorarray (36) mit einer Mehrzahl von Messpixeln (62), die jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines von einer Intensität der einfallenden Infrarotstrahlung abhängigen Temperaturmesswerts TMP (64) bereitstellen, und - einen Verschlussmechanismus zum Unterbinden eines Einfalls von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36), wobei das Verfahren zumindest folgende Schritte umfasst: - Bestimmen der Temperaturmesswerte TMP (64) einer Mehrzahl von Messpixeln (62); - Korrigieren von Temperaturmesswerten TMP (64) um jeweils eine Pixel-zugehörige Temperatur-Driftkomponente Tdrift (46). Erfindungsgemäß wird zumindest zeitweise ein Einfall von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36) mittels des Verschlussmechanismus (58) des Infrarot-Messsystems (10, 10a) unterbunden, währenddessen Temperaturmesswerte TMPblind (66) ermittelt werden, und werden die Temperatur-Driftkomponenten Tdrift (46) unter Verwendung von Temperaturmesswerten TMPblind (66) bestimmt. Ferner wird ein mit dem Verfahren betriebenes Infrarot-Messsystem (10, 10a) vorgeschlagen.
(EN)The invention relates to a method for determining a temperature of a surface (22) without contact, in particular for determining a temperature distribution of a surface (22) without contact, which method proceeds from an infrared measuring system (10, 10a) at least having: an infrared detector array (36), which has a plurality of measuring pixels (62), which each provide a measurement signal for determining a temperature measurement value T MP (64), which temperature measurement value depends on the intensity of the incident infrared radiation, and a closure mechanism for preventing the incidence of infrared radiation on the infrared detector array (36), wherein the method comprises at least the following steps: determining the temperature measurement values T MP (64) of a plurality of measuring pixels (62); correcting temperature measurement values T MP (64) by a pixel-associated temperature drift component Tdrift (46). According to the invention, the incidence of infrared radiation on the infrared detector array (36) is prevented by means of the closure mechanism (58) of the infrared measuring system (10, 10a) at least at times, and during these times temperature measurement values T MP blind (66) are determined, and the temperature drift components T drift (46) are determined by using temperature measurement values TMP blind (66). The invention further relates to an infrared measuring system (10, 10a) operated by means of the method.
(FR)Le procédé de mesure sans contact de la température d'une surface (22) selon l’invention, en particulier pour la mesure sans contact du champ de température d'une surface (22), repose sur un système de mesure par infrarouge (10, 10A) comprenant au moins : - une matrice de détecteurs d'infrarouge (36) comportant une pluralité de pixels de mesure (MP)(62) qui fournissent un signal de mesure respectif pour déterminer une valeur de température mesurée T MP (64) dépendant de l’intensité du rayonnement infrarouge incident, et un mécanisme obturateur pour bloquer le passage du rayonnement infrarouge incident sur le réseau de détecteurs d’infrarouge (36), ledit procédé comprenant au moins les étapes suivantes : - mesure des valeurs de température T MP (64) d’une pluralité de pixels de mesure (62), - correction des valeur de température mesurées T MP (64) au moyen d’une composante de dérive de température Tdrift (46) associée à un pixel correspondant. Selon l'invention, le rayonnement infrarouge incident sur la matrice de détecteurs d’infrarouge (36) est bloqué au moins par moments au moyen du mécanisme obturateur (58) du système de mesure par infrarouge (10, 10a), et pendant ce temps, des valeurs de mesure température T MP blind (66) sont déterminées, et les composantes de dérive de température T drift (46) sont déterminées sur la base des valeurs de température mesurées TMP blind (66). L’invention concerne également un système de mesure par infrarouge (10, 10a) fonctionnant selon ce procédé.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)