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1. (WO2017220682) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG EINER REFERENZ-FOKUSLAGE EINES STRAHLES EINER STRAHLBASIERTEN WERKZEUGMASCHINE DURCH DURCHFÜHREN EINER SEQUENZ VON TESTSCHNITTEN AN EINEM WERKSTÜCK
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Veröff.-Nr.: WO/2017/220682 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2017/065291
Veröffentlichungsdatum: 28.12.2017 Internationales Anmeldedatum: 21.06.2017
IPC:
B23K 37/02 (2006.01) ,B23K 37/04 (2006.01) ,B23K 26/03 (2006.01) ,B23K 26/04 (2014.01) ,B23K 26/08 (2014.01) ,B23K 26/38 (2014.01) ,B23K 31/12 (2006.01)
Anmelder: TRUMPF LASER- UND SYSTEMTECHNIK GMBH[DE/DE]; Johann-Maus-Strasse 2 71254 Ditzingen, DE
Erfinder: MEYER, Jeremy; DE
Vertreter: TRUMPF PATENTABTEILUNG; TRUMPF GmbH & Co. KG TH501 Patente und Lizenzen Johann-Maus-Strasse 2 71254 Ditzingen, DE
Prioritätsdaten:
10 2016 111 455.322.06.2016DE
Titel (EN) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING A REFERENCE FOCAL POSITION OF A BEAM OF A BEAM-BASED MACHINE TOOL BY PERFORMING A SEQUENCE OF TEST CUTS ON A WORKPIECE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR DÉTERMINER UNE POSITION DE POINT FOCAL DE RÉFÉRENCE D'UN FAISCEAU D'UNE MACHINE-OUTIL À FAISCEAU PAR EXÉCUTION D'UNE SÉQUENCE DE DÉCOUPES D'ESSAI SUR UNE PIÈCE À USINER
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG EINER REFERENZ-FOKUSLAGE EINES STRAHLES EINER STRAHLBASIERTEN WERKZEUGMASCHINE DURCH DURCHFÜHREN EINER SEQUENZ VON TESTSCHNITTEN AN EINEM WERKSTÜCK
Zusammenfassung: front page image
(EN) The invention relates to a method and a machine tool for determining a reference focal position (35) of a beam of a beam-based machine tool. Said method comprises the following steps: providing a relative movement trajectory which defines a discoid region with respect to a surrounding area, wherein said discoid region is connected to the surrounding area via at least one web region, and performing a sequence of test cuts on a workpiece (5), wherein a cutting structure is cut in each test section in the workpiece (5) by guiding the beam (37) along the relative movement trajectory and the cut is carried out along the at least one web region of the relative movement trajectory in differently adjusted focal positions.
(FR) L'invention concerne un procédé et une machine-outil pour déterminer une position de point focal (35) de référence d'un faisceau d'une machine-outil à faisceau. Le procédé consiste à fournir une trajectoire de mouvement relatif qui délimite une zone discoïde par rapport à une zone environnante, cette zone discoïde étant reliée à la zone environnante par l'intermédiaire d'au moins une zone de liaison, et à exécuter une séquence de découpes d'essai sur une pièce à usiner (5). Lors de chaque découpe d'essai dans la pièce à usiner (5), une structure de découpe est coupée par guidage du faisceau (37) le long de la trajectoire de mouvement relatif et la découpe est réalisée le long de la ou des zones de liaison de la trajectoire de mouvement relatif selon des ajustages différents de position de point focal.
(DE) Diese Anmeldung betrifft ein Verfahren und eine Werkzeugmaschine zur Bestimmung einer Referenz-Fokuslage (35) eines Strahls einer strahlbasierten Werkzeugmaschine. Das Verfahren enthält die folgenden Schritte : Bereitstellen einer Relativbewegungstrajektorie, die einen scheibenartigen Bereich hinsichtlich eines Umgebungsbereichs abgrenzt, wobei der scheibenartige Bereich über mindestens einen Stegbereich mit dem Umgebungsbereich verbunden ist, Durchführen einer Sequenz von Testschnitten an einem Werkstück (5), wobei bei jedem Testschnitt im Werkstück (5) eine Schnittstruktur durch Führen des Strahls (37) entlang der Relativbewegungstrajektorie geschnitten wird und das Schneiden entlang des mindestens einen Stegbereichs der Relativbewegungstrajektorie bei unterschiedlich eingestellten Fokuslagen durchgeführt wird.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)