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1. (WO2017220677) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG EINER SCHICHTDICKE EINER ORGANISCHEN SCHICHT AUF EINER OBERFLÄCHE MITTELS INFRAROTSPEKTROSKOPIE
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Veröff.-Nr.: WO/2017/220677 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2017/065284
Veröffentlichungsdatum: 28.12.2017 Internationales Anmeldedatum: 21.06.2017
IPC:
G01B 21/08 (2006.01) ,G01B 11/06 (2006.01)
Anmelder: TUMMUSCHEIT, Michael[DE/DE]; DE
Erfinder: TUMMUSCHEIT, Michael; DE
HUTH-FEHRE, Thomas; DE
Vertreter: PFENNING, MEINIG & PARTNER MBB; Joachimsthaler Str. 10-12 10719 Berlin, DE
Prioritätsdaten:
10 2016 211 191.422.06.2016DE
Titel (EN) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING A LAYER THICKNESS OF AN ORGANIC LAYER ON A SURFACE BY MEANS OF INFRARED SPECTROSCOPY
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF PERMETTANT DE DÉTERMINER, PAR SPECTROSCOPIE INFRAROUGE, UNE ÉPAISSEUR D'UNE COUCHE ORGANIQUE SUR UNE SURFACE
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG EINER SCHICHTDICKE EINER ORGANISCHEN SCHICHT AUF EINER OBERFLÄCHE MITTELS INFRAROTSPEKTROSKOPIE
Zusammenfassung: front page image
(EN) The invention relates to a method and a device for determining a layer thickness of an organic layer (1) on a surface (2) via infrared spectroscopy, said layer being permeable for electromagnetic radiation in the wavelength range of infrared light, and being made of a material mixture. A first layer thickness is determined at at least one measuring point (3) by means of a measuring device (4) for carrying out an infrared spectroscopy process, said device having at least one radiation source (5) and a receiver assembly (7), as well as comprising an evaluation unit (8) for determining the layer thickness depending on measuring signals of the receiver assembly (7). Subsequently, the layer (1) is heated at the at least one measuring point (3) by means of a heating device (9) up to the melting point of the highest melting material of the material mixture. After solidifying the layer (1), a second layer thickness is determined at the at least one measuring point (3). A calibration factor for determining the thickness of the layer (1) at random points of the coated surface (2) is determined from the relationship between the first and the second layer thickness at the at least one measuring point (3). Finally, the thickness of the layer (1) at a random measuring point (11) of the surface (2) is determined from the layer thickness determined at the random measuring point (11) by means of the measuring device (4) and from the calibration factor.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif permettant de déterminer, par spectroscopie infrarouge, une épaisseur d'une couche (1) organique sur une surface (2), laquelle couche est transparente pour un rayonnement électromagnétique dans la plage de longueurs d'ondes de la lumière infrarouge et formée à partir d'un mélange de substances. Une première épaisseur de couche est déterminée en au moins un point de mesure (3) au moyen d'un dispositif de mesure (4) servant à effectuer une spectroscopie infrarouge, lequel dispositif de mesure comporte au moins une source de rayonnement (5) et un système récepteur (7), ainsi qu'une unité d'évaluation (8) servant à déterminer l'épaisseur de couche en fonction de signaux de mesure du système récepteur (7). Ensuite, la couche (1) est chauffée audit au moins un point de mesure (3) au moyen d'un dispositif de chauffage (9) jusqu'au point de fusion de la substance de plus haut point de fusion du mélange de substances. Après la solidification de la couche (1), une deuxième épaisseur de couche est déterminée audit au moins un point de mesure (3). À partir du rapport entre la première et la deuxième épaisseur de couche audit au moins un point de mesure (3), un facteur d'étalonnage pour la détermination de l'épaisseur de la couche (1) en des points quelconques de la surface (2) revêtue est déterminé. Enfin, l'épaisseur de la couche (1) est déterminée en un point de mesure (11) quelconque de la surface (2) à partir de l'épaisseur de couche déterminée au point de mesure (11) quelconque au moyen du dispositif de mesure (4) et du facteur d'étalonnage.
(DE) Es wird ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung einer Schichtdicke einer organischen, für elektromagnetische Strahlung im Wellenlängenbereich des infraroten Lichts durchlässigen, aus einem Stoffgemisch gebildeten Schicht (1) auf einer Oberfläche (2) durch Infrarotspektroskopie vorgeschlagen. Mittels einer Messeinrichtung (4) zur Durchführung einer Infrarotspektroskopie, die zumindest eine Strahlungsquelle (5) und eine Empfängeranordnung (7) aufweist, sowie eine Auswerteeinheit (8) zur Bestimmung der Schichtdicke abhängig von Messsignalen der Empfängeranordnung (7) umfasst, wird an mindestens einem Messpunkt (3) eine erste Schichtdicke bestimmt. Anschließend wird die Schicht (1) an dem mindestens einen Messpunkt (3) mittels einer Heizeinrichtung (9) bis zum Schmelzpunkt des höchstschmelzenden Stoffes des Stoffgemisches erwärmt. Nach dem Erstarren der Schicht (1) wird eine zweite Schichtdicke an dem mindestens einen Messpunkt (3) bestimmt. Aus dem Verhältnis der ersten und der zweiten Schichtdicke an dem mindestens einen Messpunkt (3) wird ein Kalibrierfaktor für die Bestimmung der Dicke der Schicht (1) an beliebigen Punkten der beschichteten Oberfläche (2) ermittelt. Schließlich wird die Dicke der Schicht (1) an einem beliebigen Messpunkt (11) der Oberfläche (2) aus der mittels der Messeinrichtung (4) an dem beliebigen Messpunkt (11) bestimmten Schichtdicke und dem Kalibrierfaktor bestimmt.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)