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1. (WO2017207282) VORRICHTUNG ZUR SPEKTROSKOPIE EINER PROBE IN ABGESCHWÄCHTER TOTALREFLEXION
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2017/207282    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2017/061907
Veröffentlichungsdatum: 07.12.2017 Internationales Anmeldedatum: 18.05.2017
IPC:
G01N 21/552 (2014.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München (DE)
Erfinder: GIGLER, Alexander Michael; (DE).
NIEDERMAYR, Anja; (DE).
PASTUSIAK, Remigiusz; (DE).
PAUST, Tobias; (DE).
SCHREITER, Matthias; (DE).
STÜTZ, Evamaria; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2016 209 287.1 30.05.2016 DE
Titel (DE) VORRICHTUNG ZUR SPEKTROSKOPIE EINER PROBE IN ABGESCHWÄCHTER TOTALREFLEXION
(EN) APPARATUS FOR SPECTROSCOPY OF A SPECIMEN IN ATTANUATED TOTAL REFLECTION
(FR) DISPOSITIF POUR RÉALISER LA SPECTROSCOPIE D'UN ÉCHANTILLON EN RÉFLEXION TOTALE ATTÉNUÉE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Es wird eine Vorrichtung (1) zur Spektroskopie einer Probe (3) in abgeschwächter Totalreflexion vorgeschlagen, die ein Reflexionselement (2) mit einer ersten der Probe (3) zugewandten und einer zweiten der Probe (3) abgewandten Seitenfläche (21, 22) umfasst, wobei die erste Seitenfläche (21) zur Führung eines für die Spektroskopie der Probe (3) vorgesehenen Lichtstrahls (101) über innere Totalreflexion vorgesehen ist. Erfindungsgemäß weist die zweite Seitenfläche (22) eine Mehrzahl von zueinander beabstandeten beschichteten Reflexionsbereichen (42) auf, die zur Reflexion des Lichtstrahls (101) ausgebildet sind.
(EN)The invention relates to an apparatus (1) for spectroscopy of a specimen (3) in attenuated total reflection, which comprises a reflection element (2) having a first side surface (21) facing the specimen (3) and a second side surface (22) facing away from the specimen (3), wherein the first side surface (21) is provided to guide a light beam (101) provided for the spectroscopy of the specimen (3) via total internal reflection. According to the invention, the second side surface (22) has a plurality of coated reflection regions (42) which are spaced apart from one another and which are designed to reflect the light beam (101).
(FR)L'invention concerne un dispositif (1) pour réaliser la spectroscopie d'un échantillon (3) en réflexion totale atténuée qui comprend un élément réfléchissant (2) avec des première et seconde surfaces latérales (21, 22) respectivement tournées vers et éloignées de l'échantillon (3), la première surface latérale (21) étant prévue pour guider un faisceau lumineux (101) prévu pour la spectroscopie de l'échantillon (3) par réflexion totale interne. Selon l'invention, la seconde surface latérale (22) présente une pluralité de zones réfléchissantes (42) revêtues et écartées les unes des autres conçues pour réfléchir le faisceau lumineux (101).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)