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1. (WO2017174226) VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG WENIGSTENS EINES SCANNSYSTEMS, EINER SLS- ODER SLM-ANLAGE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten    Einwendung einreichen

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2017/174226    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2017/052273
Veröffentlichungsdatum: 12.10.2017 Internationales Anmeldedatum: 02.02.2017
IPC:
B29C 67/00 (2017.01), B33Y 50/02 (2015.01), G05B 19/401 (2006.01)
Anmelder: CL SCHUTZRECHTSVERWALTUNGS GMBH [DE/DE]; An der Zeil 2 96215 Lichtenfels (DE)
Erfinder: HERZOG, Frank; (DE).
BECHMANN, Florian; (DE).
ZEULNER, Fabian; (DE)
Vertreter: HAFNER & KOHL; Schleiermacherstr. 25 90491 Nürnberg (DE)
Prioritätsdaten:
10 2016 106 403.3 07.04.2016 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG WENIGSTENS EINES SCANNSYSTEMS, EINER SLS- ODER SLM-ANLAGE
(EN) METHOD FOR CALIBRATING AT LEAST ONE SCANNING SYSTEM OF AN SLS OR SLM INSTALLATION
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'AU MOINS UN SYSTÈME DE BALAYAGE D'UNE INSTALLATION DE FRITTAGE PAR LASER OU DE FUSION PAR LASER
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung wenigstens eines Scannsystems einer Lasersinter-oder Laserschmelzanlage mit den weiteren Merkmalen des Oberbegriffes des Anspruches 1.
(EN)The invention relates to a method for calibrating at least one scanning system of a laser sintering- or laser melting installation, having the other features of the preamble of claim 1.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'au moins un système de balayage d’une installation de frittage par laser ou de fusion par laser, présentant les caractéristiques citées au préambule de la revendication 1.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)