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1. (WO2017041243) THE CALCULATION METHOD OF WAVE REFLECTIVE INDEX ON INTERFACE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2017/041243 Internationale Anmeldenummer PCT/CN2015/089237
Veröffentlichungsdatum: 16.03.2017 Internationales Anmeldedatum: 09.09.2015
IPC:
G01N 21/43 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21
Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17
Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
41
Brechungsvermögen; phasenbeeinflussende Eigenschaften, z.B. optische Weglänge
43
durch Messung des Grenzwinkels
Anmelder:
DALIAN TIANDAO MARINE TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; Room 707, No.720 Huangpu Road, High-tech Zones Dalian, Liaoning 116018, CN
Erfinder:
ZHANG, Yonggang; CN
ZHANG, Jianxue; CN
JIAO, Lin; CN
Vertreter:
DALIAN TECHNICAL PATENT AGENCY CO., LTD; Room 1511,15F, 61 Renmin Road Zhongshan District Dalian, Liaoning 116001, CN
Prioritätsdaten:
Titel (EN) THE CALCULATION METHOD OF WAVE REFLECTIVE INDEX ON INTERFACE
(FR) PROCÉDÉ DE CALCUL DE L'INDICE DE RÉFLEXION D'ONDES SUR UNE INTERFACE
Zusammenfassung:
(EN) Calculation methods for wave reflectivity index (3) through normal on the interface and wave the absolutely reflective critical Angle (4), wave relatively reflective critical Angle (5), wave symmetrical refraction-reflection Angle (6). The wave reflectivity index (3) calculation method can be solved reflected wave energy calculation problem on interface. And absolutely reflective critical Angle (4) method to solve the interface of any kind of incident wave can all be reflected the critical Angle of computational problems for wave energy trapped, relative critical Angle (5) calculation method to solve the interface of any kind of incident wave began to resonance reflection the critical Angle of computational problems, symmetrical refraction-reflection Angle (6) calculation method can solve symmetry Angle calculation problem when the reflected wave energy equal to refracted wave energy. At the same time, and the methods are given for coefficient of the resonance wave and resonance wavelength with computational problems. The algorithms found that will be widely used in various fields such as light, electromagnetic waves, sound waves and waves etc.
(FR) L'invention concerne des procédés de calcul de l'indice de réflectivité (3) d'ondes par l'intermédiaire d'une perpendiculaire à l'interface et de l'angle critique (4) de réflexion absolue d'onde, de l'angle critique (5) de réflexion relative d'onde et de l'angle de réflexion (6) de réfraction symétrique. Le procédé de calcul de l'indice de réflectivité (3) d'ondes permet de résoudre le problème du calcul de l'énergie des ondes réfléchies sur l'interface. Le procédé utilisant l'angle critique (4) de réflexion absolue permet de résoudre les problèmes de calcul de l'angle critique de n'importe quel type d'onde incidente pouvant être réfléchie sur l'interface, liés à l'énergie des ondes piégées; le procédé de calcul de l'angle critique (5) relatif permet de résoudre les problèmes de calcul de de l'angle critique de n'importe quel type d'onde incidente sur l'interface à partir de la réflexion de résonance; le procédé de calcul de l'angle de réflexion (6) de réfraction symétrique permet de résoudre le problème de calcul de l'angle de symétrie lorsque l'énergie des ondes réfléchies est égale à l'énergie des ondes réfractées. Les procédés permettent également d'obtenir un coefficient de l'onde de résonance et la longueur d'onde de résonance à l'aide de problèmes de calcul. Les algorithmes découverts peuvent être largement utilisés dans divers domaines tels que les ondes lumineuses électromagnétiques, les ondes sonores, entre autres ondes.
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African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Englisch (EN)
Anmeldesprache: Englisch (EN)