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1. WO2017016851 - SPEKTROSKOPISCHES MESSGERÄT

Veröffentlichungsnummer WO/2017/016851
Veröffentlichungsdatum 02.02.2017
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2016/066303
Internationales Anmeldedatum 08.07.2016
IPC
G01N 21/27 2006.01
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung von Submillimeter-Wellen, infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
27mit fotoelektrischer Erfassung
G01J 3/02 2006.01
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
JMessen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
3Spektrometrie; Spektrofotometrie; Monochromatoren; Farbmessung
02Einzelheiten
G01N 21/03 2006.01
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung von Submillimeter-Wellen, infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht
01Anordnungen oder Geräte zum Erleichtern optischer Untersuchungen
03Küvetten
G01N 21/31 2006.01
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung von Submillimeter-Wellen, infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
31Untersuchen relativer Materialeffekte bei Wellenlängen, die für spezifische Elemente oder Moleküle charakteristisch sind, z.B. Atomabsorptionsspektrometrie
CPC
G01J 2003/1226
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
12Generating the spectrum; Monochromators
1226Interference filters
G01J 3/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
G01J 3/42
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
G01N 21/031
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
03Cuvette constructions
031Multipass arrangements
G01N 21/274
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
27using photo-electric detection
274Calibration, base line adjustment, drift correction
G01N 21/31
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
Anmelder
  • AIRYX GMBH
Erfinder
  • PÖHLER, Denis
  • HORBANSKI, Martin
  • PLATT, Ulrich
Vertreter
  • LIPPERT STACHOW PATENTANWÄLTE RECHTSANWÄLTE PARTNERSCHAFT MBB
Prioritätsdaten
20 2015 103 884.424.07.2015DE
20 2015 103 885.224.07.2015DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) SPEKTROSKOPISCHES MESSGERÄT
(EN) SPECTROSCOPIC MEASURING DEVICE
(FR) APPAREIL DE MESURE SPECTROSCOPIQUE
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft ein spektroskopisches Messgerät (1) umfassend eine spektral breitbandige Lichtquelle (2), eine Messzelle (3) mit einem Resonator, einen Detektor (4) und eine Recheneinheit (5), wobei die Lichtquelle (2) zum Aussenden eines Lichtstrahls ausgebildet ist, der entlang eines Lichtwegs durch einen Eingang in eine Messzelle (3) eintritt und durch einen Ausgang aus der Messzelle (3) austritt, wobei der Detektor (4) außerhalb der Messzelle (3) an dem Ausgang angeordnet ist und zum Ausgeben eines wellenlängenaufgelösten Messwerts für eine Lichtintensität von auf ihn auftreffendem Licht ausgebildet ist, wobei die Recheneinheit (5) eine Speichereinheit aufweist, in der eine zu einem Kalibrationszustand gemessene wellenlängenabhängige Kalibrationskurve speicherbar ist. Das Messgerät (1) umfasst einen Auswertedetektor (7) und eine Filtereinheit (6), die in dem Messgerät (1) dergestalt angeordnet ist, dass sie eine Filterung des Lichtanteils des Lichtstrahls mit einer vorgegebenen Wellenlängenabhängigkeit gewährleistet, der auf den Auswertedetektor (7) auftrifft, wobei die Recheneinheit (5) dazu ausgebildet ist, aus dem Auswertedetektor (7) Messwerte auszulesen und aus den Messwerten einen Wert für einen Kalibratonsparameter zu ermitteln, einen zum Kalibrationszustand ermittelten Ausgangswert des Kalibrationsparameters abzuspeichern, zu einem Nachfolgezustand einen Nachfolgewert des Kalibrationsparameters zu ermitteln und auf Basis des Unterschieds zwischen dem Ausgangswert und dem Nachfolgewert eine Anpassung der Kalibrationskurve zu berechnen.
(EN)
The invention relates to spectroscopic measuring device (1) comprising a spectrally broadband light source (2), a measuring cell (3) comprising a resonator, a detector (4) and a computing unit (5), wherein the light source (2) is embodied to emit a light beam which enters through an entrance into a measuring cell (3) along a light path and emerges from the measuring cell (3) through an exit, wherein the detector (4) is arranged outside of the measuring cell (3) at the exit and embodied to output a wavelength-resolved measurement value for a light intensity of light impinging thereon, wherein the computing unit (5) has a memory unit, in which a wavelength-dependent calibration curve measured for a calibration state may be stored. The measuring device (1) comprises an evaluation detector (7) and a filtering unit (6) which is arranged in the measuring device (1) in such a way that it ensures filtering of the light component of the light beam, impinging on the evaluation detector (7), with a predetermined wavelength dependence, wherein the computing unit (5) is embodied to read measurement values from the evaluation detector (7) and ascertain a value for a calibration parameter from the measurement values, store an initial value of the calibration parameter ascertained for the calibration state, ascertain a subsequent value of the calibration parameter for a subsequent state and calculate an adaptation of the calibration curve on the basis of the difference between the initial value and the subsequent value.
(FR)
L'invention concerne un appareil de mesure spectroscopique (1) comprenant une source lumineuse spectrale à large bande (2), une cellule de mesure (3) munie d'un résonateur, un détecteur (4) et une unité de calcul (5), la source lumineuse (2) étant conçue pour émettre un faisceau lumineux entrant le long d'une trajectoire de lumière par une entrée dans la cellule de mesure (3) et sortant par une sortie hors de la cellule de mesure (3), le détecteur (4) étant agencé à l'extérieur de la cellule de mesure (3) au niveau de la sortie et étant conçu pour délivrer une valeur de mesure basée sur une résolution de longueur d'onde pour une intensité lumineuse de la lumière frappant celui-ci. L'unité de calcul (5) présente une unité de mémoire dans laquelle peut être sauvegardée une courbe d'étalonnage dépendant de la longueur d'onde mesurée par rapport à un état d'étalonnage. L'appareil de mesure (1) comprend un détecteur d'évaluation (7) et une unité filtrante (6) qui est agencée dans l'appareil de mesure (1) de manière à garantir une filtration de la fraction lumineuse du faisceau lumineux avec une dépendance aux longueurs d'onde prédéterminée, qui se produit sur le détecteur d'évaluation (7). L'unité de calcul (5) est conçue de manière à lire des valeurs de mesure provenant du détecteur d'évaluation (7) et à déterminer à partir des valeurs de mesure une valeur pour un paramètre d'étalonnage, à mémoriser une valeur de sortie du paramètre d'étalonnage déterminée par rapport à l'état d'étalonnage, à déterminer une valeur consécutive du paramètre d'étalonnage par rapport à un état consécutif et, sur la base de la différence entre la valeur de sortie et la valeur consécutive, à calculer une adaptation de la courbe d'étalonnage.
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