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1. (WO2017001650) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten

Veröff.-Nr.: WO/2017/001650 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2016/065479
Veröffentlichungsdatum: 05.01.2017 Internationales Anmeldedatum: 01.07.2016
IPC:
H04L 9/32 (2006.01) ,H04L 9/08 (2006.01) ,G09C 1/00 (2006.01)
H Elektrotechnik
04
Elektrische Nachrichtentechnik
L
Übertragung digitaler Information, z.B. Telegrafieverkehr
9
Anordnungen für geheimen oder zugriffsgesicherten Nachrichtenverkehr
32
umfassend Mittel zur Feststellung der Identität oder der Berechtigung eines Benutzers des Systems
H Elektrotechnik
04
Elektrische Nachrichtentechnik
L
Übertragung digitaler Information, z.B. Telegrafieverkehr
9
Anordnungen für geheimen oder zugriffsgesicherten Nachrichtenverkehr
06
wobei die Verschlüsselungseinrichtung Schieberegister oder Speicher für blockweise Codierung verwendet, z.B. DES [Data Encryption Standard]-Systeme
08
Schlüsselverteilung
G Physik
09
Unterricht; Geheimschrift; Anzeige; Reklame; Siegel
C
Ver- oder Entschlüsselungsgeräte für Geheimschrift oder andere Zwecke, bei denen Geheimhaltung erforderlich ist
1
Geräte oder Verfahren, durch die eine gegebene Folge von Zeichen, z.B. Klartext, in eine unverständliche Folge von Zeichen umgeformt wird durch Umsetzen der Zeichen oder der Zeichengruppen oder durch Ersetzen derselben durch andere entsprechend einem gegebenen System
Anmelder:
SECURE-IC SAS [FR/FR]; 15, rue Claude Chappe ZAC des Champs Blancs 35510 Cesson-Sévigné, FR
Erfinder:
DAFALI, Rachid; FR
DANGER, Jean-Luc; FR
GUILLEY, Sylvain; FR
LOZAC'H, Florent; FR
Vertreter:
HNICH-GASRI, Naïma; FR
Prioritätsdaten:
15306063.701.07.2015EP
Titel (EN) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
(FR) CIRCUIT D'ESSAI INCORPORÉ POUR UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON CLONABLE
Zusammenfassung:
(EN) There is disclosed a silicon integrated circuit comprising a Physically Unclonable Function and an online or embedded test circuit, said online test circuit comprising one or more circuit parts being physically adjacent to said PUF and said one or more circuits embodying one or more tests which can be performed to determine one or more quality properties of said PUF or otherwise characterize it. Different tests with specific associated method steps are described.
(FR) L’invention concerne un circuit intégré au silicium comprenant une fonction physiquement non clonable (PUF) et un circuit d'essai en ligne ou incorporé, ledit circuit d'essai en ligne comprenant une ou plusieurs partie(s) de circuit qui est/sont physiquement adjacente(s) à ladite PUF et ledit ou lesdits circuit(s) incorporant un ou plusieurs essai(s) qui peut/peuvent être réalisé(s) pour déterminer une ou plusieurs propriété(s) de qualité de ladite PUF ou autrement la caractériser. Différents essais ayant des étapes de procédé associé spécifiques sont décrits.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Englisch (EN)
Anmeldesprache: Englisch (EN)
Auch veröffentlicht als:
KR1020180050276US20180183613CN108028757