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1. (WO2016146503) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR LICHTBLATTMIKROSKOPISCHEN UNTERSUCHUNG EINER PROBE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2016/146503 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2016/055235
Veröffentlichungsdatum: 22.09.2016 Internationales Anmeldedatum: 11.03.2016
IPC:
G02B 21/10 (2006.01) ,G02B 21/16 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
06
Einrichtungen zum Beleuchten von Objekten
08
Kondensoren
10
für Dunkelfeldbeleuchtung
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
16
für Ultraviolett-Beleuchtung
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
36
für fotografische oder Projektionszwecke
Anmelder: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH[DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Erfinder: LIPPERT, Helmut; DE
KAUFHOLD, Tobias; DE
KALKBRENNER, Thomas; DE
SIEBENMORGEN, Joerg; DE
Vertreter: PATENTANWÄLTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB; Sellierstrasse 1 07745 Jena, DE
Prioritätsdaten:
10 2015 103 802.116.03.2015DE
Titel (EN) METHOD AND ASSEMBLY FOR LIGHT SHEET MICROSCOPIC ANALYSIS OF A SAMPLE
(FR) PROCÉDÉ ET ENSEMBLE D'ANALYSE D'UN ÉCHANTILLON PAR MICROSCOPIE À NAPPE DE LUMIÈRE
(DE) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR LICHTBLATTMIKROSKOPISCHEN UNTERSUCHUNG EINER PROBE
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a light sheet microscope which comprises an illumination device, which generates coherent illumination light for multiple illumination wavelengths, a beam forming module (8) for generating a light sheet from illumination light, an illumination objective (10) for illuminating a sample (1) with the light sheet, and a detection objective (12) for mapping the light, which is emitted by the sample, onto a flat detector, wherein the optical axis of the detection objective (12) includes an angle which differs by 0º and 180º from the optical axis of the illumination objective (10). In such a light sheet microscope, the beam forming module (8) comprises a phase-selective element (19) on which multiple selection regions (20) are arranged which are spatially separated from one another, wherein each selection region (20) is assigned to a specific illumination wavelength, and wherein a predefined phase distribution for the respective illumination wavelengths is applied to each selection region (20). In addition, the beam forming module (8) comprises means for sequential or simultaneous selection of the selection regions (20) according to the respective illumination wavelengths.
(FR) L'invention concerne un microscope à nappe de lumière, qui comprend : un dispositif d'éclairage, qui produit une lumière d'éclairage cohérente pour plusieurs longueurs d'ondes d'éclairage ; un module de formation de faisceaux (8) servant à produire une nappe de lumière à partir de lumière d'éclairage ; un objectif d'éclairage (10) servant à éclairer un échantillon (1) avec la nappe de lumière ; et un objectif de détection (12) servant à reproduire de la lumière, qui est émise par l'échantillon, sur un détecteur présentant une forme plate, l'axe optique de l'objectif de détection (12) formant avec l'axe optique de l'objectif d'éclairage (10), un angle autre que 0° et 180°. Dans un microscope à nappe de lumière, le module de formation de faisceaux (8) comprend un élément (19) à sélection de phase, sur lequel sont disposées plusieurs zones de sélection (20) séparées spatialement les unes de autres. Respectivement une zone de sélection (20) est associée à une longueur d'onde d'éclairage spécifique. Une distribution de phase spécifiée pour la longueur d'onde d'éclairage respective est imposée à chaque zone de sélection (20). Le module de formation de faisceaux (8) comprend en outre des moyens servant à la sélection séquentielle ou simultanée des zones de sélection (20) en fonction de la longueur d'onde d'éclairage respective.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Lichtblattmikroskop, welches eine Beleuchtungseinrichtung, welche für mehrere Beleuchtungswellenlängen kohärentes Beleuchtungslicht erzeugt, ein Strahlformungsmodul (8) zur Erzeugung eines Lichtblatts aus Beleuchtungslicht, ein Beleuchtungsobjektiv (10) zur Beleuchtung einer Probe (1) mit dem Lichtblatt und ein Detektionsobjektiv (12) zur Abbildung von Licht, welches von der Probe emittiert wird, auf einen flächenförmigen Detektor, wobei die optische Achse des Detektionsobjektivs (12) mit der optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs (10) einen von 0° und 180° verschiedenen Winkel einschließt, umfasst. Bei einem solchen Lichtblattmikroskop umfasst das Strahlformungsmodul (8) ein phasenselektives Element (19), auf welchem mehrere, voneinander räumlich getrennte, Selektionsbereiche (20) angeordnet sind, wobei jeweils ein Selektionsbereich (20) einer spezifischen Beleuchtungswellenlänge zugeordnet ist, und wobei jedem Selektionsbereich (20) eine für die jeweilige Beleuchtungswellenlänge vorgegebene Phasenverteilung aufgeprägt ist. Außerdem umfasst das Strahlformungsmodul (8) Mittel zur sequenziellen oder simultanen Auswahl der Selektionsbereiche (20) in Abhängigkeit von der jeweiligen Beleuchtungswellenlänge.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)