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1. (WO2016135177) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM DETEKTIEREN VON LICHT
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2016/135177 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2016/053831
Veröffentlichungsdatum: 01.09.2016 Internationales Anmeldedatum: 24.02.2016
IPC:
G02B 21/00 (2006.01) ,G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/44 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
G Physik
01
Messen; Prüfen
J
Messen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
1
Fotometrie, z.B. fotografische Belichtungsmessgeräte
42
durch elektrische Strahlungsdetektoren
G Physik
01
Messen; Prüfen
J
Messen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
1
Fotometrie, z.B. fotografische Belichtungsmessgeräte
42
durch elektrische Strahlungsdetektoren
44
Elektrische Schaltungen
Anmelder: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH[DE/DE]; Ernst-Leitz-Strasse 17-37 35578 Wetzlar, DE
Erfinder: KREMER, Manuel; DE
DYBA, Marcus; DE
Vertreter: BRADL, Joachim; DE
Prioritätsdaten:
9266424.02.2015LU
Titel (EN) DEVICE AND METHOD FOR DETECTING LIGHT
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE LUMIÈRE
(DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM DETEKTIEREN VON LICHT
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a device for detecting light (16, 16b, 16c), in particular for use in a microscope, comprising at least one silicon photomultiplier (SiPM) and an optic (23), wherein the SiPM has a detection surface (22) formed by an assembly (Array) (4) of a number of single photon avalanche diodes (SPAD) (3), and wherein the optic (23) shapes the light (16, 16b, 16c) in such a way that the detection surface (22) is covered with a light beam region as completely as possible at an approximately constant intensity. The invention also relates to a microscope comprising a device for detecting light (16, 16b, 16c) according to the invention. The invention further relates to a method for detecting light (16, 16b, 16c).
(FR) L'invention concerne un dispositif pour détecter de la lumière (16, 16b, 16c), destiné notamment à être utilisé dans un microscope, comprenant au moins un photomultiplicateur au silicium (SiPM) et une optique (23), le SiPM présentant une surface de détection (22) formée par un agencement (réseau) (4) de plusieurs diodes à avalanche à photon unique (SPAD) (3) et l'optique (23) mettant en forme la lumière (16, 16b, 16c) de sorte que la surface de détection (22) est couverte presque en intégralité avec une zone de faisceau lumineux d'intensité approximativement constante. L'invention concerne également un microscope comprenant un dispositif de détection de lumière (16, 16b, 16c) selon l'invention. L'invention a en outre pour objet un procédé pour détecter de la lumière (16, 16b, 16c).
(DE) Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Detektieren von Licht (16, 16b, 16c), insbesondere zur Anwendung in einem Mikroskop, mit mindestens einem Silicium-Photomultiplier (SiPM) und einer Optik (23), wobei der SiPM eine aus einer Anordnung (Array) (4) mehrerer Single-Photon-Avalanche-Dioden (SPAD) (3) gebildete Detektionsfläche (22) aufweist und wobei die Optik (23) das Licht (16, 16b, 16c) derart formt, dass die Detektionsfläche (22) mit einem Lichtstrahlbereich nahezu konstanter Intensität möglichst vollständig bedeckt ist. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Mikroskop umfassend eine erfindungsgemäße Vorrichtung zur Detektion von Licht (16, 16b, 16c). Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Detektieren von Licht (16, 16b, 16c).
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)