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1. (WO2016096137) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON FEINSTPARTIKELMASSEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2016/096137    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2015/002546
Veröffentlichungsdatum: 23.06.2016 Internationales Anmeldedatum: 17.12.2015
IPC:
G01N 1/22 (2006.01), G01N 15/06 (2006.01), G01N 15/00 (2006.01), G01N 5/02 (2006.01), C12M 1/26 (2006.01), C12M 1/12 (2006.01), G01N 33/00 (2006.01), B01D 45/08 (2006.01)
Anmelder: KARLSRUHER INSTITUT FÜR TECHNOLOGIE [DE/DE]; Kaiserstr. 12 76131 Karlsruhe (DE)
Erfinder: PAUR, Hanns, Rudoll; (DE).
MÜLHOPT, Sonja; (DE).
SCHLAGER, Christoph; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2014 118 846.2 17.12.2014 DE
Titel (DE) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG VON FEINSTPARTIKELMASSEN
(EN) DEVICE FOR MEASURING SUPERFINE PARTICLE MASSES
(FR) DISPOSITIF POUR MESURER DES MASSES DE PARTICULES FINES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Vorrichtung zur Messung von Feinstpartikelmassen, umfassend ein Expositionssystem mit mindestens zwei Messkammern (1) mit identischen Geometrien, umfassend jeweils eine Depositionsflache (4) für Partikel mit je einer auf diese gerichtete Aerosolzuführung (9) mit einem Auslassbereich (17) für die Zuführung eines Aerosols auf die Depositionsflache, wobei mindestens eine der Depositionsflachen auf einem Schwingquarz (5) als Feinstwaage ausgeführt sind, sowie Mittel zur Erzeugung eines Potentialunterschieds zwischen den Partikeln im Gas und den Depositionsflachen, wobei an den Depositionsflachen jeweils ein Potential von maximal 50 Volt zum Erdpotential anliegt, über den Depositionsflachen jeweils ein Gitter angeordnet ist sowie an den Gittern jeweils ein Potential mit einem Potentialunterschied von mindestens 200 V zum Potential der Depositionsflachen anliegt, wobei zwischen den Gittern und den jeweiligen Depositionsflächen sich ein elektrisches Feld aufspannt.
(EN)A device for measuring superfine particle masses, comprising an exposure system having at least two measurement chambers (1) with identical geometries, each comprising a deposition surface (4) for particles with a respective aerosol supply (9) directed toward said deposition surface, the aerosol supply having an outlet region (17) for the supply of an aerosol onto the deposition surface, wherein at least one of the deposition surfaces is formed on a piezoelectric crystal (5) as superfine weighing scale, and means for generating a potential difference between the particles in the gas and the deposition surfaces, wherein a potential of at most 50 V relative to ground potential is applied to each of the deposition surfaces, a grate is arranged over each of the deposition surfaces, and a potential with a potential difference of at least 200 V in relation to the potential of the deposition surfaces is applied to each of the grates, wherein an electric field is generated between the grates and the respective deposition surfaces.
(FR)L'invention concerne un dispositif pour mesurer des masses de particules fines, lequel dispositif comprend un système d'exposition pourvu d'au moins deux chambres de mesure (1) de géométrie identique comportant chacune une surface de dépôt (4) pour des particules, sur laquelle est dirigée une amenée d'aérosol (9) respective pourvue d'une zone de sortie (17) pour l'amenée d'un aérosol sur ladite surface de dépôt, au moins une des surfaces de dépôt se présentant sous la forme d'une balance de précision placée sur un quartz oscillateur (5). Le dispositif comprend aussi des moyens pour créer une différence de potentiel entre les particules dans le gaz et les surfaces de dépôt. L'invention se caractérise en ce qu'un potentiel présentant une différence de 50 V maximum par rapport au potentiel de la terre est appliqué à chaque surface de dépôt, en ce qu'une grille est disposée au-dessus de chaque surface de dépôt et en ce qu'un potentiel présentant une différence de potentiel d'au moins 200 V par rapport au potentiel des surfaces de dépôt est appliqué à chaque grille, un champ électrique s'étendant entre les grilles et les surfaces de dépôts correspondantes.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)