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1. (WO2016062733) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ÜBERPRÜFUNG DES TRANSMISSIONSGRADS EINES FLACHGLAS-SUBSTRATS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2016/062733 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2015/074290
Veröffentlichungsdatum: 28.04.2016 Internationales Anmeldedatum: 21.10.2015
IPC:
G01N 21/59 (2006.01) ,G01N 21/84 (2006.01) ,G01N 21/896 (2006.01)
Anmelder: CIBITE AG[DE/DE]; Posthof 4 86609 Donauwörth, DE
Erfinder: OLSCHEWSKI, Dieter; DE
DÖHRING, Ina; DE
LÜKE, Peter; DE
Vertreter: PATENTANWÄLTE BAUER VORBERG KAYSER PARTNERSCHAFT MBB; Goltsteinstr. 87 50968 Köln, DE
Prioritätsdaten:
10 2014 115 318.921.10.2014DE
Titel (EN) METHOD AND DEVICE FOR VERIFYING THE TRANSMITTANCE OF A FLAT GLASS SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR VÉRIFIER LA TRANSMITTANCE D'UN SUSBTRAT EN VERRE PLAT
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ÜBERPRÜFUNG DES TRANSMISSIONSGRADS EINES FLACHGLAS-SUBSTRATS
Zusammenfassung: front page image
(EN) The invention relates to a method and an associated device for verifying the transmittance of a flat glass substrate (40) by means of a measuring apparatus (10) which directs light emitted by at least one light source (20) from one side of the flat glass substrate (40) through the flat glass substrate (40) to the opposite side of the flat glass substrate (40), where the light is detected by at least one receiver unit (30), and the transmittance of the flat glass substrate (40) is determined on the basis of a comparison between the intensity of the light emitted by the light source (20) and the light incident on the receiver unit (30). According to the invention, in a first measurement, a light source (20) generates polychromatic light and the transmittance is determined at one point on the flat glass substrate (40), and in at least one additional measurement, a light source (20) generates monochromatic light having a defined wavelength and the transmittance is also determined, if possible at the same point on the flat glass substrate (40). A comparison between the at least two measurements makes it possible to determine whether the transmittance is approximately the same or different in all measurements and thus better narrow down the cause of any reduced transmittance.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif correspondant pour vérifier la transmittance d'un substrat en verre plat (40), comprenant un dispositif de mesure (10) permettant à la lumière issue d'au moins une source de lumière (20) d'être dirigée à travers le substrat en verre plat (40) d'un côté du substrat en verre plat (40) au côté opposé du substrat en verre plat (40) où elle est détectée par au moins une unité de réception (30), la transmittance du substrat en verre plat (40) étant déterminée par une comparaison entre l'intensité de la lumière (20) émise par la source de lumière (20) et celle de la lumière frappant l'unité de réception (30). Lors d'une première mesure, une source de lumière (20) produit une lumière polychromatique, la transmittance étant déterminée en un emplacement du substrat en verre plat (40), et lors d'au moins une autre mesure, une source de lumière (20) produit une lumière monochromatique ayant une longueur d'onde définie, la transmittance étant également déterminée au maximum au niveau du même emplacement du substrat en verre plat (40). Une comparaison entre les au moins deux mesures permet de déterminer si la transmittance est approximativement égale ou non entre toutes les mesures, afin de mieux circonscrire tout phénomène à l'origine d'une transmittance réduite.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine zugehörige Vorrichtung zur Überprüfung des Transmissionsgrads eines Flachglas-Substrats (40) mit einer Messvorrichtung (10), mit der Licht wenigstens einer Lichtquelle (20) von einer Seite des Flachglas-Substrats (40) durch das Flachglas-Substrat (40) hindurch auf die gegenüber liegende Seite des Flachglas-Substrats (40) geleitet wird, wo es durch wenigstens eine Empfängereinheit (30) erfasst wird und anhand eines Vergleichs zwischen der Intensität des von der Lichtquelle (20) ausgesandten Lichts und des auf die Empfängereinheit (30) fallenden Lichts der Transmissionsgrad des Flachglas-Substrats (40) bestimmt wird. Bei einer ersten Messung erzeugt eine Lichtquelle (20) dabei polychromatisches Licht, wobei der Transmissionsgrad an einer Stelle des Flachglas-Substrats (40) bestimmt wird, und in wenigstens einer weiteren Messung erzeugt eine Lichtquelle (20) monochromatisches Licht einer definierten Wellenlänge, wobei der Transmissionsgrad möglichst an der gleichen Stelle des Flachglas-Substrats (40) ebenfalls ermittelt wird. Durch einen Vergleich der wenigstens zwei Messungen wird ermittelt, ob der Transmissionsgrad bei allen Messungen annähernd gleich oder nicht gleich ist, um so die Ursache für einen verminderten Transmissionsgrad besser eingrenzen zu können.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)