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1. (WO2016055307) PRÜFANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR PRÜFUNG EINER SCHALTANLAGE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2016/055307 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2015/072438
Veröffentlichungsdatum: 14.04.2016 Internationales Anmeldedatum: 29.09.2015
IPC:
G01R 31/327 (2006.01) ,G01R 19/25 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
327
Prüfen von Stromkreis-Unterbrechern, Schaltern oder Leistungsschaltern
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
19
Anordnungen zum Messen von Strömen oder Spannungen oder zur Anzeige des Vorhandenseins oder des Vorzeichens von Strömen oder Spannungen
25
mit digitaler Messtechnik
Anmelder:
OMICRON ELECTRONICS GMBH [AT/AT]; Oberes Ried 1 6833 Klaus, AT
Erfinder:
JOCHUM, Michael; AT
GEIGER, Stephan; AT
KÜNG, Rainer; AT
Vertreter:
PATENTANWÄLTE PINTER & WEISS OG; Prinz-Eugen-Strasse 70 1040 Wien, AT
Prioritätsdaten:
A 50716/201407.10.2014AT
Titel (EN) TEST ARRANGEMENT AND METHOD FOR TESTING A SWITCHING SYSTEM
(FR) DISPOSITIF DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST D'UN SYSTÈME DE COMMUTATION
(DE) PRÜFANORDNUNG UND VERFAHREN ZUR PRÜFUNG EINER SCHALTANLAGE
Zusammenfassung:
(EN) In order to be able to test switching systems of different manufacturers and types in a simple manner, a control unit (6) for a switching device (5) of the switching system (4) is connected to a test device (10) via an adapter cable (11), said test device emulating the switching device (5). The test device (10) reads out configuration-specific data from a memory unit (15) on the adapter cable (11) and the test device (10) uses said data to configure its signal inputs (BE) and signal outputs (BA, AA) required for carrying out the test.
(FR) Selon l'invention, pour pouvoir tester de manière simple des systèmes de commutation de différents fabricants et de différents types, une unité de commande (6) destinée à un dispositif de commutation (5) du système de commutation (4) est reliée par le biais d'un câble adaptateur (11) à un dispositif de test (10) pour tester le dispositif de commutation (5) et le dispositif de test (10) lit des données spécifiques à la configuration dans une unité de mémorisation (15) au niveau du câble adaptateur (11) et le dispositif de test (10) configure ainsi ses entrées de signaux (BE) et ses sorties de signaux (BA, AA) nécessaires à la réalisation du test.
(DE) Um auf einfache Weise Schaltanlagen von verschiedenen Herstellern und Typen prüfen zu können, ist vorgesehen, dass eine Steuereinheit (6) für eine Schaltvorrichtung (5) der Schaltanlage (4) über ein Adapterkabel (11) mit einem Prüfgerät (10), das für die Prüfung die Schaltvorrichtung (5) nachbildet, verbunden wird und das Prüfgerät (10) aus einer Speichereinheit (15) am Adapterkabel (11) konfigurationsspezifische Daten ausliest und das Prüfgerät (10) damit seine für die Durchführung der Prüfung benötigten Signaleingänge (BE) und Signalausgänge (BA, AA) konfiguriert.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)