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1. (WO2016055177) MIKROSKOP
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2016/055177 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2015/066104
Veröffentlichungsdatum: 14.04.2016 Internationales Anmeldedatum: 15.07.2015
IPC:
G02B 7/36 (2006.01) ,G02B 21/24 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01)
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
7
Halterungen, Fassungen, Justiereinrichtungen oder lichtdichte Verbindungen für optische Elemente
28
Systeme zum automatischen Erzeugen von Scharfeinstellsignalen
36
unter Verwendung von Methoden zur Messung der Bildschärfe
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
24
Grundlegender Aufbau
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
21
Mikroskope
36
für fotografische oder Projektionszwecke
Anmelder:
LEICA MICROSYSTEMS (SCHWEIZ) AG [CH/CH]; Max Schmidheiny-Str. 201 9435 Heerbrugg, CH
Erfinder:
HONEGGER, Marc; CH
SCHNITZLER, Harald; CH
ZUEST, Reto; CH
Vertreter:
AFRAM, Tony; DE
Prioritätsdaten:
DE102014114476.706.10.2014DE
Titel (EN) MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE
(DE) MIKROSKOP
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a microscope (10) comprising an automatic focusing system (11) for carrying out a focusing step, with a first image sensor (14a) which is arranged in a first coupled out beam path (12a) and which is used to capture a first image (16a) and a second image sensor (14b) which is arranged in a second coupled out beam path (12b) and which is used to capture a second image (16b). The automatic focusing system (11) is designed in such a manner that, based on contrast values of the first image (16a) captured by the first image sensor (14a) and the second image (16b) captured by the second image sensor (14b) a contrast difference is determined, and based on the determined contrast difference, a relative position of the focus plane (20) to the object plant (22) is adjusted, the first and the second images (16a, 1bb) respectively comprising image information provided by the respective first and second image sensor (14a, 14b) designed as surface sensors.
(FR) L'invention concerne un microscope (10) doté d'un système autofocus (11) destiné à exécuter une opération de mise au point et comprenant un premier capteur d'image (14a), placé sur un premier trajet optique (12a) extrait et destiné à acquérir une première image (16a), et un second capteur d'image (14b), placé sur un second trajet optique (12b) extrait et destiné à acquérir une seconde image (16a). Le système autofocus (11) est conçu pour déterminer une différence de contraste sur la base de valeurs de contraste de la première image (16a) acquise par le premier capteur d'image (14a) et de la seconde image (16b) acquise par le second capteur d'image (14b) et pour régler une position relative du plan de netteté (20) par rapport au plan objet (22) sur la base de la différence de contraste déterminée, la première et la seconde image (16a, 16b) comprenant chacune des informations d'image fournies par les premier et second capteurs d'image (14a, 14b) réalisés sous forme de capteurs surfaciques.
(DE) Beschrieben ist Mikroskop (10) mit einem Autofokussystem (11) zum Ausführen eines Fokussierungsvorgangs mit einem in einem ersten ausgekoppelten Strahlengang (12a) angeordneten ersten Bildsensor (14a) zum Aufnehmen eines ersten Bildes (16a) und einem in einem zweiten ausgekoppelten Strahlengang (12b) angeordneten zweiten Bildsensor (14b) zum Aufnehmen eines zweiten Bildes (16b). Dabei ist das Autofokussystem (11) so ausgebildet, um basierend auf Kontrastwerten des von dem ersten Bildsensor (14a) aufgenommenen ersten Bildes (16a) und des von dem zweiten Bildsensor (14b) aufgenommenen zweiten Bildes (16b) eine Kontrastdifferenz zu ermitteln, und basierend auf der ermittelten Kontrastdifferenz eine relative Lage der Schärfeebene (20) zur Objektebene (22) einzustellen, wobei das erste und zweite Bild (16a, 16b) jeweils von dem jeweils als Flächensensor ausgebildeten ersten und zweiten Bildsensor (14a, 14b) bereitgestellte Bildinformationen umfassen.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)