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1. (WO2016055056) VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG DES ZUSTANDS EINER KONTAKTOBERFLÄCHE EINES STECKVERBINDERKONTAKTES
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2016/055056    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE2015/100417
Veröffentlichungsdatum: 14.04.2016 Internationales Anmeldedatum: 08.10.2015
IPC:
H01R 13/03 (2006.01), H01H 1/027 (2006.01), H01B 1/24 (2006.01)
Anmelder: HARTING AG & CO. KG [DE/DE]; Marienwerderstraße 3 32339 Espelkamp (DE)
Erfinder: DAMSCH, Stefanie; (DE).
TRÖGER, Lutz; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2014 114 721.9 10.10.2014 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG DES ZUSTANDS EINER KONTAKTOBERFLÄCHE EINES STECKVERBINDERKONTAKTES
(EN) METHOD FOR MONITORING THE STATE OF A CONTACT SURFACE OF A PLUG CONTACT
(FR) PROCÉDÉ POUR SURVEILLER L'ÉTAT D'UNE SURFACE DE CONTACT D'UN CONTACT À FICHE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Im Stand der Technik existiert der Nachteil, dass keine kontinuierliche Zustandsüberwachung der Kontaktoberflächenbeschichtung einzelner Kontakte möglich ist. Die Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, eine solche kontinuierliche Zustandsüberwachung der Kontaktoberflächenbeschichtung mit einem möglichst geringen Aufwand zu ermöglichen. Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass in eine Kontaktoberflächenbeschichtung (2), die auf ein Kontaktbasismaterial (1) aufgebracht ist, Sensoren (4, 4', 4") eingebracht werden. Insbesondere handelt es sich bei den Sensoren (4, 4', 4") um Nanostrukturen, deren Leitwert signifikant höher ist als der Leitwert der Kontaktoberflächenbeschichtung 2. Erfolgt ein Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung (2), beispielsweise durch eine Gegenkontaktzunge (3), dann werden zumindest einige Sensoren (4, 4', 4") zerstört. Die Ergebnisse einer entsprechenden Leitfähigkeitsmessung durch die Messeinrichtung (5) lassen eine signifikante statistische Aussage über den Zustand der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) zu.
(EN)In prior art, it is impossible to continuously monitor the state of a contact surface coating of individual contacts. The aim of the invention is to enable said type of continuous state monitoring of the contact surface coating as simply as possible. Said aim is achieved in that sensors (4, 4', 4'') are introduced into a contact surface coating (2) which is applied to a contact base material (1). The sensors (4, 4', 4'') are in particular nanostructures, the conductance thereof being significantly higher than the conductance of the contact surface coating (2). If the contact surface coating (2) is removed by wear and tear, for example due to the counter contact of a tongue (3), then at least some sensors (4, 4', 4'') are destroyed. The results of a corresponding conductivity measurement by means of the measurement device (5) provides a significant statistical indication on the state of the contact surface coating (2).
(FR)Dans l'état de la technique, il est impossible de réaliser une surveillance d'état continue du revêtement de surface de contact de contacts individuels. L'invention vise à permettre une telle surveillance d'état continue du revêtement de surface de contact avec des moyens les plus faibles possibles. A cet effet, des capteurs (4, 4', 4'') sont introduits dans un revêtement de surface de contact (2) appliqué sur un matériau de base de contact (1). Les capteurs (4, 4', 4'') sont notamment des nanostructures dont la conductance est nettement supérieure à celle du revêtement de surface de contact (2). Si le revêtement de surface de contact (2) est enlevé par usure, par exemple sous l'effet d'une languette de contact complémentaire (3), au moins certains capteurs (4, 4', 4'') sont détruits. Les résultats d'une mesure de conductivité correspondante par le dispositif de mesure (5) donnent une indication significative de l'état du revêtement de surface de contact (2).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)