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1. (WO2016050327) PRÜFKONTAKT ZUM KONTAKTIEREN EINES PRÜFLINGSKONTAKTS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2016/050327    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2014/072126
Veröffentlichungsdatum: 07.04.2016 Internationales Anmeldedatum: 15.10.2014
IPC:
H01R 13/17 (2006.01), H01R 13/193 (2006.01), H01R 13/20 (2006.01)
Anmelder: LISA DRÄXLMAIER GMBH [DE/DE]; Landshuter Straße 100 84137 Vilsbiburg (DE)
Erfinder: LICHTENBERG, Erwin; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2014 114 141.5 29.09.2014 DE
Titel (DE) PRÜFKONTAKT ZUM KONTAKTIEREN EINES PRÜFLINGSKONTAKTS
(EN) TESTING CONTACT FOR CONTACTING A TEST-OBJECT CONTACT
(FR) CONTACT DE TEST POUR ÉTABLIR LE CONTACT AVEC UN CONTACT ÉCHANTILLON
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft einen Prüfkontakt (1, 14, 18, 24) zum reibungsarmen Kontaktieren eines Prüflingskontakts (12, 28). Der Prüfkontakt weist ein Kontaktelement (2, 21, 25) zum Kontaktieren des Prüflingskontakts (12, 28) und ein Anpresselement (7, 15, 19, 29) zum Erzeugen eines Anpressdrucks des Kontaktelements (2, 21, 25) auf den Prüflingskontakt auf. Der Prüfkontakt besitzt einen Steckzustand, in dem das Kontaktelement (2, 21, 25) in einer Längsrichtung (L) relativ zum Prüflingskontakt (12, 28) bewegt werden kann, um das Kontaktelement reibungsarm im oder um den Prüflingskontakt anzuordnen. Das Anpresselement (7, 15, 19, 29) kann entlang oder entgegen der Längsrichtung (L) relativ zum Kontaktelement (2, 21, 25) bewegt werden, wenn das Kontaktelement im oder um den Prüflingskontakt angeordnet ist, um den Prüfkontakt vom Steckzustand in einen Prüfzustand zu überführen. Im Prüfzustand erzeugt das Anpresselement (7, 15, 19, 29) quer zur Längsrichtung (L) einen Anpressdruck des Kontaktelements (2, 21, 25) auf den Prüflingskontakt (12, 28).
(EN)The invention relates to a testing contact (1, 14, 18, 24) for contacting a test-object contact (12, 28) in a low-friction manner. The testing contact comprises a contact element (2, 21, 25) for contacting the test-object contact (12, 28) and a pressure element (7, 15, 19, 29) for producing a contact pressure of the contact element (2, 21, 25) on the test-object contact. The testing contact has a plugging state, in which the contact element (2, 21, 25) can be moved in a longitudinal direction (L) in relation to the test-object contact (12, 28) in order to arrange the contact element in or around the test-object contact in a low-friction manner. The pressure element (7, 15, 19, 29) can be moved in or against the longitudinal direction (L) in relation to the contact element (2, 21, 25) when the contact element is arranged in or around the test-object contact, in order to transfer the testing contact from the plugging state to a testing state. In the testing state, the pressure element (7, 15, 19, 29) produces a contact pressure of the contact element (2, 21, 25) on the test-object contact (12, 28) transversely to the longitudinal direction (L).
(FR)La présente invention concerne un contact de test (1, 14, 18, 24) destiné à établir un contact à faible frottement avec un contact échantillon (12, 28). Le contact de test comporte un élément de contact (2, 21, 25) destiné à établir le contact avec le contact échantillon (12, 28) et un élément de pression (7, 15, 19, 29) destiné à générer une pression de contact de l'élément de contact (2, 21, 25) sur le contact échantillon. Le contact de test présente un état d'enfichage dans lequel l'élément de contact (2, 21, 25) peut être déplacé dans une direction longitudinale (L) par rapport au contact échantillon (12, 28) pour disposer l'élément de contact à faible frottement dans le contact échantillon ou autour de celui-ci. L'élément de pression (7, 15, 19, 29) peut être déplacé le long ou à l'opposé de la direction longitudinale (L) par rapport à l'élément de contact (2, 21, 25) lorsque l'élément de contact est disposé dans le contact échantillon ou autour de celui-ci pour transférer le contact de test de l’état d’enfichage dans l’état de test. Dans l'état de test, l'élément de pression (7, 15, 19, 29) génère transversalement à la direction longitudinale (L) une pression de l'élément de contact (2, 21, 25) sur le contact échantillon (12, 28).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)