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1. (WO2016012496) VERFAHREN ZUM ERMITTELN EINER SYSTEMZUVERLÄSSIGKEIT EINER LOGISCHEN SCHALTUNG

Pub. No.:    WO/2016/012496    International Application No.:    PCT/EP2015/066749
Publication Date: Fri Jan 29 00:59:59 CET 2016 International Filing Date: Thu Jul 23 01:59:59 CEST 2015
IPC: G06F 17/50
G01R 31/317
G06F 11/26
Applicants: SIEMENS AG ÖSTERREICH
Inventors: CECH, Christian
FISCHER, Bernhard
HINTERSTOISSER, Thomas
MATSCHNIG, Martin
Title: VERFAHREN ZUM ERMITTELN EINER SYSTEMZUVERLÄSSIGKEIT EINER LOGISCHEN SCHALTUNG
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren einer Systemzuverlässigkeit einer logischen Schaltung (S). Die logische Schaltung (S) ist dabei aus einzelnen Komponenten (K1, K2) aufgebaut, wobei für jede Komponente (K1, K2) ein funktionales Komponentenmodell für ein Design und eine Simulation eines Schaltungsmodells der logischen Schaltung (S) erstellt wird. Das jeweilige funktionale Komponentenmodell wird dann um ein zugehöriges Leistungsmodell (PM1, PM2), um ein auf dem Leistungsmodell (PM1, PM2) basierendes Temperaturmodell (TM1, TM2) und um ein auf dem Temperaturmodell (TM1, TM2) basierendes Zuverlässigkeitsmodell (RM1, RM2) für die jeweilige Komponente (K1, K2) erweitert (1). Mit Hilfe der erweiterten Komponentenmodelle wird dann das Schaltungsmodell der logischen Schaltung (S) aufgebaut (2) und anhand einer Simulation der logischen Schaltung (S) mit Hilfe des aufgebauten Schaltungsmodells für einen vorgegebenen Anwendungsfall (AF) komponentenspezifisch ein funktionales, ein leistungsabhängiges und ein temperaturabhängiges Verhalten (FV, PV, TV) sowie eine temperaturabhängige Ausfallsrate (RV) für die jeweiligen Komponente (K1, K2) abgeleitet (3). Auf Basis dieser abgeleiteten Daten können dann für den vorgegebenen Anwendungsfall (AF) zusätzlich zum funktionalen Verhalten, auch ein Leistungs- und Temperaturverhalten (STM) sowie eine Gesamtausfallsrate (SRM) in Abhängigkeit von Temperatur und Simulationszeit für die logische Schaltung (S) sehr einfach und dynamisch ermittelt werden (4).