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1. (WO2015181068) FUNKTIONSINTEGRIERTES LASER-SCANNING-MIKROSKOP
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2015/181068    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2015/061378
Veröffentlichungsdatum: 03.12.2015 Internationales Anmeldedatum: 22.05.2015
IPC:
G02B 21/00 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE).
CARL ZEISS AG [DE/DE]; Carl-Zeiss-Strasse 22 73447 Oberkochen (DE)
Erfinder: SCHWEDT, Daniel; (DE).
WALD, Matthias; (DE).
ANHUT, Tiemo; (DE)
Vertreter: Patentanwälte GEYER, FEHNERS & PARTNER mbB; Sellierstraße 1 07745 Jena (DE)
Prioritätsdaten:
10 2014 107 606.0 28.05.2014 DE
Titel (DE) FUNKTIONSINTEGRIERTES LASER-SCANNING-MIKROSKOP
(EN) FUNCTIONALLY INTEGRATED LASER SCANNING MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE À BALAYAGE LASER À FONCTIONS INTÉGRÉES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein funktionsintegriertes Laser-Scanning-Mikroskop, ausgebildet zur Abtastung einer Probe mit einer Laserbeleuchtung wahlweise in einem Konfokal-, Linien- oder Weitfeld-Betriebsmodus, umfassend − eine Laserlichtquelle, einen Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang, eine Detektionseinrichtung und mindestens ein Objektiv, jeweils ausgebildet zur Nutzung für jeden wählbaren Betriebsmodus, wobei − der Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengang optische Mittel zur Konfiguration der Laserbeleuchtung, mindestens einen Scanner zur Abtastung der Probe mit der Laserbeleuchtung, und einen Strahlteiler zur Trennung von Beleuchtungs- und Detektionslicht aufweist, und − im Detektionsstrahlengang steuerbare optische Elemente zur Änderung der Strahlführung in Abhängigkeit vom jeweils gewählten Betriebsmodus vorgesehen sind. Die steuerbaren optischen Baugruppen sind über eine Befehlseingabeeinrichtung mit einer Steuerschaltung verbunden, die zur Umschaltung auf den jeweils gewünschten Betriebsmodus ausgebildet ist, und es ist Hard- und Software zum Generieren von Bildern der Probe aus den von der Detektionseinrichtung abgegebenen elektronischen Bildsignalen vorhanden.
(EN)The invention relates to a functionally integrated laser scanning microscope, embodied for scanning a sample using laser illumination, selectively in a confocal, line or wide-field mode of operation, comprising – a laser light source, an illumination and detection beam path, a detection device and at least one objective, respectively embodied for use in each selectable mode of operation, wherein – the illumination and detection beam path has optical means for configuring the laser illumination, at least one scanner for scanning the sample with laser illumination and a beam splitter for separating illumination and detection light, and – provision is made in the detection beam path for controllable optical elements for changing the beam guidance depending on the respectively selected mode of operation. The controllable optical assemblies are connected via a command entry device to a control circuit, which is embodied for switching to the respectively desired mode of operation, and hardware and software for generating images of the sample from the electronic image signals emitted by the detection device are present.
(FR)L'invention concerne un microscope à balayage laser à fonctions intégrées, conçu pour explorer un échantillon au moyen d'un éclairage laser au choix en mode confocal, ligne à ligne ou champ large, qui comprend une source de lumière laser, un trajet de faisceau d'éclairage et de détection, un système de détection et au moins un objectif, adaptés chacun pour être utilisés dans chaque mode de fonctionnement sélectionnable. Le trajet du faisceau d'éclairage et de détection comprend des moyens optiques servant à configurer l'éclairage laser, au moins un scanner servant à balayer l'échantillon à l'aide de l'éclairage laser, et un diviseur de faisceau servant à diviser le faisceau de lumière d'éclairage et de détection. En outre, des éléments optiques commandables, servant à modifier le guidage du faisceau en fonction du mode de fonctionnement respectif choisi, sont disposés dans le trajet du faisceau de détection. Les sous-ensembles optiques commandables sont reliés par le biais d'un dispositif de saisie d'instructions à un circuit de commande adapté pour basculer vers le mode de fonctionnement respectif souhaité et le microscope comprend également des moyens matériels et logiciels pour générer des images de l'échantillon à partir des signaux d'imagerie électronique fournis par le système de détection.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)