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1. (WO2015132060) VERFAHREN ZUM ORTEN EINES KURZSCHLUSSES IN EINEM WENIGSTENS EINEN LEITUNGSABSCHNITT UMFASSENDEN STROMNETZ
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Veröff.-Nr.: WO/2015/132060 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2015/052980
Veröffentlichungsdatum: 11.09.2015 Internationales Anmeldedatum: 12.02.2015
IPC:
G01R 31/08 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
08
Fehlerortbestimmung in Kabeln, Übertragungsleitungen oder Netzen
Anmelder:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München, DE
Erfinder:
BIANCHI, Roberto; DE
Prioritätsdaten:
10 2014 203 906.104.03.2014DE
Titel (EN) METHOD FOR LOCATING A SHORT CIRCUIT IN AN ELECTRICAL GRID COMPRISING AT LEAST ONE LINE SECTION
(FR) PROCÉDÉ DE LOCALISATION D'UN COURT-CIRCUIT DANS UN RÉSEAU ÉLECTRIQUE COMPRENANT AU MOINS UN TRONÇON DE LIGNE
(DE) VERFAHREN ZUM ORTEN EINES KURZSCHLUSSES IN EINEM WENIGSTENS EINEN LEITUNGSABSCHNITT UMFASSENDEN STROMNETZ
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a method for locating a short circuit in an electrical grid comprising at least one line section, in particular of an autotransformer system, said method having the following steps: - detecting section-specific parameters of the line section; - deriving at least one mathematical function from the section-specific parameters of the line section, wherein the mathematical function represents a short-circuit reactance of the line section as a function of a location within the line section; and - deducing the location of the short circuit within the line section from the mathematical function and a short-circuit reactance value determined with respect to the short circuit.
(FR) L'invention concerne un procédé permettant de localiser un court-circuit dans un réseau électrique comprenant au moins un tronçon de ligne, en particulier dans un système d'autotransformateur. Ledit procédé comprend les étapes suivantes consistant à : - détecter des paramètres spécifiques à un tronçon pour le tronçon de ligne ; - déduire au moins une fonction mathématique à partir des paramètres spécifiques au tronçon de ligne, la fonction mathématique représentant une réactance de court-circuit du tronçon de ligne en fonction d'un lieu à l'intérieur du tronçon de ligne ; - déterminer le lieu du court-circuit à l'intérieur du tronçon de ligne à partir de la fonction mathématique et d'une valeur de réactance de court-circuit calculée pour le court-circuit.
(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Orten eines Kurzchlusses in einem wenigstens einen Leitungsabschnitt umfassenden Stromnetz, insbesondere eines Autotransformatorsystems, aufweisend die Schritte: - Erfassen von abschnittspezifischen Parametern des Leitungsabschnitts; - Herleiten von wenigstens einer mathematischen Funktion aus den abschnittspezifischen Parametern des Leitungsabschnitts, wobei die mathematische Funktion eine Kurzschlussreaktanz des Leitungsabschnitts als Funktion eines Ortes innerhalb des Leitungsabschnitts darstellt; und - Ableiten des Ortes des Kurzschlusses innerhalb des Leitungsabschnitts aus der mathematischen Funktion und einem zu dem Kurzschluss ermittelten Kurzschlussreaktanzwert.
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasische Patentorganisation (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)