WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2015075084) RAMAN-MIKROSKOPISCHE ABBILDUNGSEINRICHTUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2015/075084    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2014/075049
Veröffentlichungsdatum: 28.05.2015 Internationales Anmeldedatum: 19.11.2014
IPC:
G01J 3/44 (2006.01), G01J 3/10 (2006.01), G01J 3/02 (2006.01)
Anmelder: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; CPTD Ernst-Leitz-Strasse 17-37 35578 Wetzlar (DE)
Erfinder: KRISHNAMACHARI, Vishnu Vardhan; (DE).
SEYFRIED, Volker; (DE).
HAY, William C.; (DE)
Vertreter: BRADL, Joachim; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2013 112 759.2 19.11.2013 DE
Titel (DE) RAMAN-MIKROSKOPISCHE ABBILDUNGSEINRICHTUNG
(EN) RAMAN MICROSCOPIC IMAGING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE PAR MICROSCOPIE RAMAN
Zusammenfassung: front page image
(DE)Beschrieben ist eine Raman-mikroskopische Abbildungseinrichtung (100) mit einer ersten Laserlichtquelle (12) zum Aussenden eines ersten Laserstrahls (16) mit einer ersten Wellenlänge längs eines ersten Lichtwegs (20); einer zweiten Laserlichtquelle (44) zum Aussenden eines zweiten Laserstrahls (18) mit einer von der ersten Wellenlänge verschiedenen zweiten Wellenlänge längs eines von dem ersten Lichtweg (20) räumlich getrennten zweiten Lichtwegs (22); einem Strahlvereinigungselement (32) zur kollinearen Vereinigung der beiden Laserstrahlen (16, 18) in einem gemeinsamen, auf eine Probe gerichteten Lichtweg (34); einem Detektor (38) zum Erfassen eines Messsignals auf Grundlage der beiden mit der Probe wechselwirkenden Laserstrahlen (16, 18); und einer Auswerteeinheit (40) zum Auswerten des von dem Detektor (38) erfassten Messsignals. Erfindungsgemäß ist die erste Laserlichtquelle (12) als Pulsquelle und die zweite Laserlichtquelle (44) als kontinuierliche Quelle ausgebildet.
(EN)The invention relates to a Raman microscopic imaging device (100), comprising a first laser light source (12) for emitting a first laser beam (16) having a first wavelength along a first light path (20); a second laser light source (44) for emitting a second laser beam (18) having a second wavelength different from the first wavelength along a second light path (22) spatially separated from the first light path (20); a beam-combining element (32) for collinearly combining the two laser beams (16, 18) in a common light path (34) directed at a sample; a detector (38) for sensing a measurement signal on the basis of the two laser beams (16, 18) interacting with the sample; and an evaluating unit (40) for evaluating the measurement signal sensed by the detector (38). According to the invention, the first laser light source (12) is designed as a pulse source and the second laser light source (44) is designed as a continuous source.
(FR)L'invention concerne un dispositif d'imagerie par microscopie Raman (100) comprenant : une première source de lumière laser (12) émettant un premier faisceau laser (16) d'une première longueur d'onde sur un premier chemin optique (20) ; une deuxième source de lumière laser (44) émettant un deuxième faisceau laser (18) d'une deuxième longueur d'onde différente de la première longueur d'onde sur un deuxième chemin optique (22) séparé dans l'espace du premier chemin optique (20) ; un élément de concentration de faisceaux (32) effectuant une concentration colinéaire des deux faisceaux laser (16, 18) sur un chemin optique commun (34) orienté sur un échantillon ; un détecteur (38) détectant un signal de mesure sur la base des deux faisceaux laser (16, 18) en interaction avec l'échantillon ; et une unité d'évaluation (40) qui évalue le signal de mesure détecté par le détecteur (38). Selon l'invention, la première source de lumière laser (12) est réalisée sous la forme d'une source à impulsions et la deuxième source de faisceau laser (44) sous la forme d'une source continue.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)