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1. (WO2015063047) DIGITALMIKROSKOP MIT SCHWENKSTATIV, VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG UND VERFAHREN ZUR AUTOMATISCHEN FOKUS- UND BILDMITTENNACHFÜHRUNG FÜR EIN SOLCHES DIGITALMIKROSKOP
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2015/063047    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2014/073039
Veröffentlichungsdatum: 07.05.2015 Internationales Anmeldedatum: 28.10.2014
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/24 (2006.01), G02B 21/26 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE)
Erfinder: HEIN, Detlef; (DE)
Vertreter: MÜLLER, Silke; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2013 222 295.5 04.11.2013 DE
Titel (DE) DIGITALMIKROSKOP MIT SCHWENKSTATIV, VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG UND VERFAHREN ZUR AUTOMATISCHEN FOKUS- UND BILDMITTENNACHFÜHRUNG FÜR EIN SOLCHES DIGITALMIKROSKOP
(EN) DIGITAL MICROSCOPE COMPRISING PIVOTING STAND, METHOD FOR CALIBRATION AND METHOD FOR AUTOMATIC FOCUS AND IMAGE CENTRE TRACKING FOR SUCH A DIGITAL MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE NUMÉRIQUE À SUPPORT PIVOTANT, PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE ET PROCÉDÉ DE FOCALISATION ET DE CENTRAGE D'IMAGE AUTOMATIQUES D'UN TEL MICROSCOPE NUMÉRIQUE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Digitalmikroskop mit einem Schwenkstativ,ein Verfahren zu dessen Kalibrierung und ein Verfahren zur automatischen Fokus- und Bildmittennachführung bei einer Betätigung des Schwenkstatives. Erfindungsgemäß umfasst das Schwenkstativ einen Winkelsensor zur Ermittlung eines aktuellen Schwenkwinkels des Schwenkarms (07). Der aktuelle Schwenkwinkel wird in der Steuereinheit verarbeitet, um eine automatische Fokusnachführung und/oder Zentrumsnachführung bei Betätigen des Schwenkarms (07) auszuführen. Eine Kalibrierung erfolgt unter Verwendung zweier Schwenkwinkel, wobei abweichende Fokus- und Bildmittenpositionen ermittelt werden und daraus eine schwenkwinkelabhängige Funktion für den Fokus und die Bildmittenposition bestimmt wird.
(EN)The invention relates to a digital microscope comprising a pivoting stand, a method for calibration thereof and a method for automatic focus and image centre tracking upon actuation of the pivoting stand. According to the invention, the pivoting stand comprises an angle sensor for determining a current pivoting angle of the pivoting arm (07). The current pivoting angle is processed in the control unit in order to perform automatic focus tracking and/or centre tracking upon actuation of the pivoting arm (07). A calibration is effected using two pivoting angles, wherein deviating focus and image centre positions are determined and a pivoting-angle-dependent function for the focus and the image centre position is ascertained therefrom.
(FR)L'invention concerne un microscope numérique comportant un support pivotant, un procédé d'étalonnage de celui-ci, et un procédé de focalisation et de centrage d'image automatique lors d'un actionnement du support pivotant. Selon l'invention, le support pivotant comprend un capteur d'angle servant à détecter un angle de pivotement actuel du bras pivotant (07). L'angle de pivotement actuel est traité dans l'unité de commande afin d'exécuter une focalisation et/ou un centrage automatiques lors de l'actionnement du bras pivotant (07). On effectue un étalonnage en utilisant deux angles de pivotement. On détermine différentes positions de focalisation et de centrage d'image et, à partir de là, on détermine une fonction dépendant de l'angle de pivotement pour la focalisation et la position de centrage d'image.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)