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1. (WO2015028436) FUNKENSTRECKE MIT ALTERUNGSDETEKTOR UND VERFAHREN ZUR MESSUNG DER ALTERUNG EINER FUNKENSTRECKE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2015/028436    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2014/068018
Veröffentlichungsdatum: 05.03.2015 Internationales Anmeldedatum: 26.08.2014
IPC:
H01T 1/12 (2006.01), H01T 21/00 (2006.01)
Anmelder: PHOENIX CONTACT GMBH & CO. KG [DE/DE]; Flachsmarktstr. 8 32825 Blomberg (DE)
Erfinder: DURTH, Rainer; (DE).
MEYER, Thomas; (DE).
SCHMUTZ, Jan-Erik; (DE)
Vertreter: SCHMELCHER, Thilo; (DE)
Prioritätsdaten:
10 2013 216 960.4 26.08.2013 DE
Titel (DE) FUNKENSTRECKE MIT ALTERUNGSDETEKTOR UND VERFAHREN ZUR MESSUNG DER ALTERUNG EINER FUNKENSTRECKE
(EN) SPARK GAP HAVING AN AGING DETECTOR AND METHOD FOR MEASURING THE AGING OF A SPARK GAP
(FR) ÉCLATEUR À ÉTINCELLE ÉQUIPÉ D'UN DÉTECTEUR DE VIEILLISSEMENT ET PROCÉDÉ DE MESURE DU VIEILLISSEMENT D'UN CHEMIN D'ÉTINCELLE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Gegenstand der Erfindung ist eine Funkenstrecke (FS) mit Alterungsdetektor, wobei die Funkenstrecke (FS) eine erste Entladungselektrode (E1) und eine hierzu beabstandete zweite Entladungselektrode (E2) aufweist zwischen denen sich bei Erreichen einer bestimmten Spannung (Ubruch) eine Lichtbogenentladung entlang der Entladungsstrecke (ES) zwischen der ersten Entladungselektrode (E1) und der zweiten Entladungselektrode (E2) ausbildet, wobei die Entladungsstrecke zumindest abschnittsweise von einem elektrisch isolierendem Stoff (ISO) umgeben ist, wobei der elektrisch isolierende Stoff (ISO) an zumindest einer Stelle einen elektrisch leitfähigen Abschnitt (A1, A2) aufweist, wobei der elektrisch leitfähige Abschnitt (A1, A2) durch Einwirkung von Lichtbogenentladungen beschädigt wird und mittels einer Messung des Durchflusses oder des Widerstandes oder der Kapazität des elektrisch leitfähige Abschnitts (A1, A2) die Alterung der Funkenstrecke (FS) bestimmt werden kann.
(EN)The invention relates to a spark gap (FS) having an aging detector, wherein the spark gap (FS) comprises a first discharge electrode (E1) and a second discharge electrode (E2) spaced from the first discharge electrode, between which an arc discharge is formed along the discharge gap (ES) between the first discharge electrode (E1) and the second discharge electrode (E2) when a certain voltage (Ubruch) is reached, wherein the discharge gap is surrounded by an electrically insulating material (ISO) at least in some sections, wherein the electrically insulating material (ISO) has an electrically conductive section (A1, A2) in at least one location, wherein the electrically conductive section (A1, A2) is damaged by the effect of arc discharges and the aging of the spark gap (FS) can be determined by measuring the current flow or the resistance or the capacitance of the electrically conductive section (A1, A2).
(FR)L'invention concerne un éclateur à étincelle (FS) équipé d'un détecteur de vieillissement. L'éclateur à étincelle (FS) comporte une première électrode de décharge (E1) et une seconde électrode de décharge (E2), placée à distance de la première, entre lesquelles, lorsqu'une certaine tension (Ubruch) a été atteinte, une décharge en arc le long du chemin de décharge (ES) est générée entre la première électrode de décharge (E1) et la seconde électrode de décharge (E2). Le chemin de décharge est entouré, au moins par portions, par une matière électriquement isolante (ISO). La matière électriquement isolante (ISO) comporte en au moins un endroit une partie électriquement conductrice (A1, A2). La partie électriquement conductrice (A1, A2) est endommagée par l'action des décharges en arc et le vieillissement de l'éclateur (FS) peut être déterminé par une mesure du débit ou de la résistance ou de la capacité de la partie électriquement conductrice (A1, A2).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)