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1. (WO2014114702) LICHTMIKROSKOP UND MIKROSKOPIEVERFAHREN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2014/114702    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2014/051301
Veröffentlichungsdatum: 31.07.2014 Internationales Anmeldedatum: 23.01.2014
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 27/58 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE)
Erfinder: BATHE, Wolfgang; (DE).
NETZ, Ralf; (DE)
Vertreter: HAMPE, Holger; Carl Zeiss AG Patentabteilung Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE)
Prioritätsdaten:
10 2013 001 238.4 25.01.2013 DE
Titel (DE) LICHTMIKROSKOP UND MIKROSKOPIEVERFAHREN
(EN) LIGHT MICROSCOPE AND MICROSCOPY METHOD
(FR) MICROSCOPE OPTIQUE ET PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Lichtmikroskop mit einer Probenebene, in weicher eine zu untersuchende Probe positionierbar ist, mit einer Lichtquelle zum Aussenden von Beleuchtungslicht, mit optischen Abbildungsmitteln zum Leiten des Beleuchtungslichts in die Probenebene und mit einer Detektoreinrichtung, welche zum Nachweisen von Probenlicht, das von der Probe kommt, mehrere Detektorelemente aufweist. Dabei weisen benachbarte Detektorelemente zueinander einen Abstand auf, der kleiner ist als eine Airy-Disk, den ein Punkt der Probenebene auf der Detektoreinrichtung erzeugt. Das Lichtmikroskop ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, dass eine Abtasteinrichtung mit mindestens einer ersten und einer zweiten Optikanordnung vorhanden ist, dass die Optikanordnungen der Abtasteinrichtung gleichzeitig in eine gemeinsame Richtung bewegbar sind zum Erzeugen einer Beleuchtungsabtastbewegung und einer Detektionsabtastbewegung, welche zueinander entgegengesetzt sind, dass die erste und die zweite Optikanordnung jeweils mehrere nebeneinander angeordnete optische Elemente aufweisen, mit denen voneinander beabstandete Probenbereiche gleichzeitig untersuchbar sind, dass die erste und die zweite Optikanordnung so angeordnet sind, dass sowohl ein Strahlengang des Probenlichts von der Probenebene zur Detektoreinrichtung als auch ein Strahlengang des Beleuchtungslichts von der Lichtquelle zu der Probenebene über die erste Optikanordnung verlaufen und nur einer dieser beiden Strahlengänge über die zweite Optikanordnung verläuft und dass zum Erreichen einer Richtung der Detektionsabtastbewegung, welche entgegengesetzt zur Richtung der Beleuchtungsabtastbewegung ist, mit der Abtasteinrichtung Probenlicht nicht invertierend und mit einem Abbildungsmaßstab von kleiner eins abbildbar ist. Die Erfindung ist zudem auf ein entsprechendes Mikroskopieverfahren gerichtet.
(EN)The invention relates to a light microscope comprising a sample plane, in which a sample to be examined can be positioned, comprising a light source for emitting illumination light, comprising optical imaging means for guiding the illumination light into the sample plane, and comprising a detector device having a plurality of detector elements for the purpose of detecting sample light coming from the sample. In this case, adjacent detector elements are at a distance from one another which is smaller than an Airy-Disk produced by a point of the sample plane on the detector device. According to the invention, the light microscope is characterized in that a scanning device comprising at least a first and a second optical arrangement is present, in that the optical arrangements of the scanning device are movable simultaneously in a common direction for the purpose of producing an illumination scanning movement and a detection scanning movement, which are opposite to one another, in that the first and the second optical arrangements each have a plurality of optical elements which are arranged alongside one another and by means of which sample regions spaced apart from one another can be examined simultaneously, in that the first and the second optical arrangements are arranged such that both a beam path of the sample light from the sample plane to the detector device and a beam path of the illumination light from the light source to the sample plane run via the first optical arrangement and only one of these two beam paths runs via the second optical arrangement, and in that, in order to achieve a direction of the detection scanning movement which is opposite to the direction of the illumination scanning movement, by means of the scanning device, sample light can be imaged in a non-inverting manner and with an imaging scale of less than one. The invention is additionally directed to a corresponding microscopy method.
(FR)L'invention concerne un microscope optique comprenant un plan d'échantillon dans lequel un échantillon à examiner peut être positionné, une source lumineuse pour émettre de la lumière d'éclairage, des moyens de reproduction optiques pour guider la lumière d'éclairage dans le plan d'échantillon et un dispositif de détection qui présente plusieurs éléments de détection pour détecter la lumière qui vient de l'échantillon. Des éléments de détection voisins présentent les uns par rapport aux autres une distance qui est plus petite qu'un disque de Ayri et qui génère un point du plan d'échantillon sur le dispositif de détection. Selon l'invention, le microscope optique est caractérisé en ce qu'un dispositif de balayage comprenant au moins une première et une deuxième unité optique est présent, en ce que les unités optiques du dispositif de balayage peuvent être déplacées simultanément dans une direction commune pour produire un mouvement de balayage d'éclairage et un mouvement de balayage de détection qui sont opposés l'un à l'autre, en ce que la première et la deuxième unité optique présentent respectivement plusieurs éléments optiques qui sont disposés les uns à côté des autres et avec lesquels des zones d'échantillon espacées les unes des autres peuvent être examinées simultanément, en ce que la première et la deuxième unité optique sont disposées de manière qu'un trajet de la lumière d'échantillon puisse s'étendre du plan d'échantillon au dispositif de détection et qu'un trajet de la lumière d'éclairage puisse s'étendre de la source lumineuse au plan d'échantillon par l'intermédiaire de la première unité optique et que seul un de ces deux trajets passe par la deuxième unité optique, et en ce que pour atteindre une direction du mouvement de balayage de détection qui est opposée à la direction du mouvement de balayage d'éclairage, la lumière d'échantillon puisse être reproduite non inversée et à une échelle inférieure à un par le dispositif de balayage. L'invention concerne également un procédé de microscopie correspondant.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)