Patentansprüche
1. Verfahren zur thermischen Beschichtung mittels eines Materialstroms (42) mittels einer Düse (30),
insbesondere mittels eines Pulverstroms,
bei dem ein Material (Mxy) des Materialstroms (42) erwärmt, angeschmolzen und/oder aufgeschmolzen wird,
insbesondere mittels eines Plasmas oder einer Flamme, bei dem zumindest eine der Zielgrößen ( Z i , Z 2 , 7, 3 , ... )
Materialstromgeschwindigkeit (vp) des Materialstroms (42) und/oder
Helligkeitsverteilungen (H(x,y); jH(x, y) dxdy ) oder
Temperaturverteilung (T(x,y; jT(x, y) dxdy )
des Materialstroms (42)
und/oder
Spannung (UB) zwischen einer Elektrode (36) und der Düse (30)
und/oder
die Leistung (P) der Düse (30)
gemessen oder bestimmt und geregelt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
bei dem als zumindest eine Zielgröße (Zlr Z2, Z3i ...)
eine Helligkeitsverteilung (H(x,y); jH(x, y) dxdy ) des
Materialstroms (42) oder die Spannung (UB) zwischen der Düse (30) und der Elektrode (36) oder die Leistung (P) der Düse (30) geregelt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1,
bei dem als Zielgrößen ( Z i , Z 2 )
entweder
die Materialstromgeschwindigkeit (vp) und
die Spannung (UB) zwischen der Düse (30) und
der Elektrode (36)
oder
die Materialstromgeschwindigkeit (vp) und
die Leistung (P) an der Düse (30)
geregelt werden.
Verfahren nach Anspruch 1,
bei dem als Zielgrößen ( Z i , Z 2 )
eine Helligkeitsverteilung (H(x,y); fH(x, y) dxdy )
Materialstroms (42) und
die Materialstromgeschwindigkeit
geregelt werden.
Verfahren nach Anspruch 1,
bei dem als Zielgrößen (Zlr Z2)
eine Temperaturverteilung
Materialstroms (42) und
die Materialstromgeschwindigkeit (vp)
geregelt werden.
6. Verfahren nach Anspruch 1,
bei dem als Zielgrößen (Zlr Z2, Z3)
entweder
eine Temperaturverteilung (T(x,y); |T(x, y) dxdy ) des
Materialstroms (42),
die Materialstromgeschwindigkeit (vp) und
die Spannung (UB) zwischen der Düse (30) und der Elektrode
(36)
oder
eine Temperaturverteilung (T(x,y); fT(x, y) dxdy ) des
Materialstroms (42),
die Materialstromgeschwindigkeit (vp) und
die Leistung der Düse (30)
geregelt werden.
7. Verfahren nach Anspruch 1,
bei dem als Zielgrößen ( Z l r Z2, Z3)
entweder
die Helligkeitsverteilung (H(x,y); jH(x,y) dxdy ) des
Materialstroms (42),
die Materialstromgeschwindigkeit (vp) und
die Spannung (UB) zwischen der Düse (30) und der Elektrode
(36)
oder
die Helligkeitsverteilung des (H(x,y); jH(x,y) dxdy )
Materialstroms (42),
die Materialstromgeschwindigkeit (vp) und
die Leistung (P) an der Düse (30)
geregelt werden.
8. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1, 2, 3, 4, 5, 6 oder 7,
bei dem die Stromstärke (IB) zwischen der Düse (30) und der Elektrode (36),
und/oder
die Gasflussraten ( // m Ar) der Düse (30),
als Regelgrößen (Rl, R2, R3) verändert werden,
um die Zielgrößen (ZI, Z2, Z3) wie die Helligkeitsverteilung (H(x,y); IH(x,y) dxdy ) des Materialstroms (42) oder
die Temperaturverteilung (Tx,y); fT(x, y) dxdy ) des Material- Stroms (42) oder
die Spannung (UB) an der Düse (30) oder
die Leistung (P) an der Düse (30) und/oder Materialstromgeschwindigkeit (vp)
in einem bestimmten Toleranzbereich oder konstant zu halten .
9. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 8,
bei dem als eine Regelgröße (Rl, R2, R3) die Stromstärke (IB) erhöht oder gesenkt wird.
10. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 9,
bei dem als zumindest eine Regelgröße (Rl, R2, R3) die Gasflussrate (/KÄr, /// ) der Primärgase (Argon, Helium)
und/oder der Sekundärgase (Wasserstoff, ...) der Düse (30) erhöht oder gesenkt werden.
11. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 10,
bei dem die Materialflussrate (mm) während der Beschich- tung nicht verändert wird.
12. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 11,
bei dem als Temperatur die Temperaturverteilung (T(x,y)) des Materialsstroms (42) verwendet wird.
13. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 11,
bei dem als Temperatur des Materialsstroms (42) ein Integralwert (IT(x, y) dxdy ) des Materialsstroms (42) verwendet
wird .
14. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche
11,
bei dem als Helligkeitswert ein Integralwert
(IH(x,y) dxdy ) des Materialstroms (42) verwendet wird.
15. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 11,
bei dem als Helligkeitswert die Helligkeitsverteilung
(H(x,y)) des Materialsstroms (42) verwendet wird.
16. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 11, 14 oder 15,
bei dem als Helligkeitswert (H) die Lichtstärke oder Strahlungsleistung des Materialstroms (42) verwendet wird.
17. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 16,
bei dem ein HVOF-Verfahren verwendet wird.
18. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 16,
bei dem ein Plasmaspritzverfahren verwendet wird.
19. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 18,
bei dem vor der Beschichtung,
ausgehend von einem und/oder mehreren Anfangswerten der Regelgrößen (Rl, R2, R3) ,
bei dem die gewünschten Zielgrößen (ZI, Z2, Z3) erreicht und/oder eingehalten werden,
Parametersätze für verschiedene Konstellationen wie höher, tiefer, konstant der Regelgrößen (Rl, R2, R3) eingestellt werden und
die Veränderungen der Zielgrößen (ZI, Z2, Z3) ermittelt werden,
die dann später zur Regelung verwendet werden.
