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1. (WO2014114444) SYSTEM ZUR LAGEBESTIMMUNG EINES PRÜFOBJEKTES UND ZUGEHÖRIGES VERFAHREN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten

Veröff.-Nr.: WO/2014/114444 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2014/000148
Veröffentlichungsdatum: 31.07.2014 Internationales Anmeldedatum: 21.01.2014
IPC:
G01B 11/00 (2006.01) ,G02B 27/30 (2006.01) ,G01B 11/02 (2006.01) ,G02B 27/62 (2006.01) ,G01M 11/02 (2006.01) ,G01B 11/26 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
30
Kollimatoren
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
02
zum Messen der Länge, Breite oder Dicke
G Physik
02
Optik
B
Optische Elemente, Systeme oder Geräte
27
Andere optische Systeme; andere optische Geräte
62
Optische Geräte besonders zum Justieren optischer Elemente beim Zusammenbau optischer Systeme ausgebildet
G Physik
01
Messen; Prüfen
M
Prüfen der statischen oder dynamischen Massenverteilung rotierender Teile von Maschinen oder Konstruktionen; Prüfen von Konstruktionsteilen oder Apparaten, soweit nicht anderweitig vorgesehen
11
Prüfen optischer Apparate; Prüfen von Aufbauten oder Maschinenteilen durch optische Verfahren, soweit nicht anderweitig vorgesehen
02
Prüfen optischer Eigenschaften
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
26
zum Messen von Winkeln oder Kegeln; zum Prüfen der Achsrichtungen
Anmelder:
JENOPTIK OPTICAL SYSTEMS GMBH [DE/DE]; Göschwitzer Strasse 25 07745 Jena, DE
TRIOPTICS GmbH; Hafenstraße 35-39 22880 Wedel, DE
Erfinder:
FRANZ, Stefan; DE
Vertreter:
WALDAUF, Alexander; c/o Jenoptik AG Strategie I Patente Carl-Zeiss-Strasse 1 07743 Jena, DE
Prioritätsdaten:
102013001458.123.01.2013DE
Titel (DE) SYSTEM ZUR LAGEBESTIMMUNG EINES PRÜFOBJEKTES UND ZUGEHÖRIGES VERFAHREN
(EN) SYSTEM FOR DETERMINING THE POSITION OF A TEST OBJECT AND ASSOCIATED METHOD
(FR) SYSTÈME DE DÉTERMINATION DE LA POSITION D'UN OBJET À CONTRÔLER ET PROCÉDÉ CORRESPONDANT
Zusammenfassung:
(DE) Die Erfindung betrifft ein System (100) zur Lagebestimmung eines Prüfobjektes (400) umfassend folgende Merkmale: ein Autokollimationsfernrohr (200) mit einer Strahlquelle (210) zum Aussenden eines Strahlenbündels; einem Strahlteiler (220); einer Detektoreinheit (230) und einem Objektiv (240); und einem als Fokussiereinrichtung (110) ausgebildetem optischen Element, wobei das Prüfobjekt (400), die Strahlquelle (210) und die Fokussiereinrichtung (110) entlang einer gemeinsamen optischen Achse (z) angeordnet sind und einer Steuereinrichtung (300) zum Steuern der Fokussiereinrichtung, die derart ausgebildet ist, dass das Strahlenbündel auf einen Krümmungsmittelpunkt einer ersten Prüffläche (401) des Prüfobjektes (400) mit den Koordinaten (x1, y1) und zumindest auf einen Krümmungsmittelpunkt einer zweiten Prüffläche (402) des Prüfobjektes (400) mit den Koordinaten (x2, y2) fokussierbar ist.
(EN) The invention relates to a system (100) for determining the position of a test object (400) comprising the following features: an autocollimation telescope (200) having a beam source (210) for emitting a beam; a beam splitter (220); a detector unit (230) and an objective lens (240); and an optical element embodied as a focusing device (110), wherein the test object (400), the beam source (210) and the focusing device (110) are arranged along a common optical axis (z), and a control device (300) for controlling the focusing device, which is designed in such a way that the beam can be focused onto a centre of curvature of a first test surface (401) of the test object (400) with the coordinates (x1, y1) and at least onto a centre of curvature of a second test surface (402) of the test object (400) with coordinates (x2, y2).
(FR) L'invention concerne un système (100) de détermination de la position d'un objet à contrôler (400), comportant les caractéristiques suivantes : un télescope à autocollimation (200) présentant une source de rayonnement (210) pour émettre un faisceau de rayons ; un séparateur de faisceau (220) ; une unité de détection (230) et un objectif (240) ; et un élément optique conçu en tant que dispositif de focalisation (110), l'objet à contrôler (400), la source de rayonnement (210) et le dispositif de focalisation (110) étant disposés le long d'un axe optique commun (z), ainsi qu'un dispositif de commande (300) pour commander le dispositif de focalisation, conçu de telle manière que le faisceau de rayons peut être focalisé sur un point central de courbure d'une première surface à contrôler (401) de l'objet à contrôler (400) avec les coordonnées (x1, y1) et au moins sur un point central de courbure d'une seconde surface à contrôler (402) de l'objet à contrôler (400) avec les coordonnées (x2, y2).
front page image
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)
Auch veröffentlicht als:
US20150323417CN105324628JP2016508599EP2948732