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1. (WO2014090762) VERFAHREN ZUR DETEKTION EINES DNA-SCHADENS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2014/090762    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2013/076007
Veröffentlichungsdatum: 19.06.2014 Internationales Anmeldedatum: 10.12.2013
IPC:
C12Q 1/68 (2006.01)
Anmelder: EBERHARD KARLS UNIVERSITAET TUEBINGEN [DE/DE]; Geschwister-Scholl-Platz 72074 Tuebingen (DE)
Erfinder: ROTHFUSS, Oliver; (DE).
LEHLE, Simon; (DE).
SCHULZE-OSTHOFF, Klaus; (DE)
Vertreter: WITTE, WELLER & PARTNER; Postfach 10 54 62 70047 Stuttgart (DE)
Prioritätsdaten:
10 2012 112 324.1 14.12.2012 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR DETEKTION EINES DNA-SCHADENS
(EN) METHOD FOR DETECTING DNA DAMAGE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN DOMMAGE DE L'ADN
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion eines DNA-Schadens sowie ein Kit, das die notwendigen Komponenten zur Durchführung des vorstehenden Verfahrens enthält.
(EN)The invention relates to a method for detecting DNA damage and to a kit that contains the necessary components for performing the aforementioned method.
(FR)La présente invention concerne un procédé de détection d'un dommage de l'ADN, ainsi qu'un kit contenant les composants nécessaires pour mettre en œuvre ledit procédé.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)