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1. (WO2014082795) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DURCHFÜHRUNG EINER RÖNTGENFLUORESZENZANALYSE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2014/082795    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2013/072001
Veröffentlichungsdatum: 05.06.2014 Internationales Anmeldedatum: 22.10.2013
IPC:
G01N 23/223 (2006.01)
Anmelder: HELMUT FISCHER GMBH INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK [DE/DE]; Industriestraße 21 71069 Sindelfingen (DE)
Erfinder: KESSLER, Jens; (DE)
Vertreter: PATENTANWÄLTE MAMMEL UND MASER; Tilsiter Str. 3 71065 Sindelfingen (DE)
Prioritätsdaten:
10 2012 111 572.9 29.11.2012 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DURCHFÜHRUNG EINER RÖNTGENFLUORESZENZANALYSE
(EN) METHOD AND DEVICE FOR PERFORMING AN X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE RÉALISATION D'UNE ANALYSE PAR FLUORESCENCE X
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Durchführung einer Röntgenfluoreszenzanalyse, bei dem von einer Röntgenstrahlungsquelle (14) eine Primärstrahlung (16) auf einen Probenkörper (12) gerichtet wird, bei dem eine vom Probenkörper (12) emittierte Sekundärstrahlung (18) von einem Detektor (20) erfasst und mit einer Auswerteeinheit (21) ausgewertet wird, wobei in den Strahlengang der Sekundärstrahlung (18) zumindest ein Filter (23) mit zumindest einer eine Filterebene bildenden Filterschicht (25) eingebracht und in Abhängigkeit eines Winkels α der Filterschicht (25) zur Sekundärstrahlung (18) als Bandfilter wirkt und eine störende Wellenlänge der Sekundärstrahlung (18) durch Braggsche Reflexion ausgekoppelt wird, der Winkel α der Filterschicht (25) des Filters (23) zur Reflexion von zumindest einer störenden Wellenlänge der Sekundärstrahlung (18) durch Braggsche Reflexion mit einer Einsteileinrichtung (31 ) eingestellt wird und die ausgekoppelte Wellenlänge der Sekundärstrahlung (18) von einem zweiten Detektor (32) erfasst sowie die daraus ermittelten Signale an die Auswerteeinheit (21 ) weitergeleitet werden.
(EN)The invention relates to a method for performing an x-ray fluorescence analysis, in which method a primary radiation (16) is directed at a specimen (12) by an x-radiation source (14) and in which method a secondary radiation (18) emitted by the specimen (12) is detected by a detector (20) and evaluated by means of an evaluating unit (21), wherein at least one filter (23) having at least one filter layer (25) forming a filter plane is brought into the beam path of the secondary radiation (18) and acts as a band-pass filter in dependence on an angle α of the filter layer (25) to the secondary radiation (18) and an interfering wavelength of the secondary radiation (18) is coupled out by Bragg reflection, the angle α of the filter layer (25) of the filter (23) is set by means of a setting apparatus (31) to reflect at least one interfering wavelength of the secondary radiation (18) by Bragg reflection, and the coupled-out wavelength of the secondary radiation (18) is detected by a second detector (32) and the signals determined therefrom are forwarded to the evaluating unit (21).
(FR)L'invention concerne un procédé de réalisation d'une analyse par fluorescence X dans lequel une source de rayons X (14) envoie un rayonnement primaire (16) sur une éprouvette (12) et un rayonnement secondaire (18) émis par l'éprouvette (12) est capté par un détecteur (20) et évalué par un module d'évaluation (21). Au moins un filtre (23) comprenant au moins une couche filtrante (25) formant un plan de filtre est introduit dans le trajet du rayonnement secondaire (18) et agit comme un filtre passe-bande en fonction d'un angle α de la couche filtrante (25) par rapport au rayonnement secondaire (18). Une longueur d'onde parasite du rayonnement secondaire (18) est éliminée par réflexion de Bragg. L'angle α de la couche filtrante (25) du filtre (23) servant à réfléchir au moins une longueur d'onde parasite du rayonnement secondaire (18) par réflexion de Bragg est ajusté au moyen d'un système de réglage (31). La longueur d'onde éliminée du rayonnement secondaire (18) est captée par un second détecteur (32) et les signaux ainsi déterminés sont transmis au module d'évaluation (21).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)