WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2014075764) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR MIKROSKOPIE EINER VIELZAHL VON PROBEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2014/075764    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2013/003252
Veröffentlichungsdatum: 22.05.2014 Internationales Anmeldedatum: 29.10.2013
IPC:
G01N 21/64 (2006.01), G02B 21/36 (2006.01)
Anmelder: KARLSRUHER INSTITUT FÜR TECHNOLOGIE (KIT) [DE/DE]; Kaiserstrasse 12 76131 Karlsruhe (DE).
ACQUIFER AG [DE/DE]; Sophienstr. 136 D-76135 Karlsruhe (DE)
Erfinder: LIEBEL, Urban; (DE).
GEHRIG, Jochen; (DE)
Vertreter: HUBER, Michael; Müller-Boré & Partner Patentanwälte PartG mbB Friedenheimer Brücke 21 80639 München (DE)
Prioritätsdaten:
10 2012 022 603.9 19.11.2012 DE
Titel (DE) VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR MIKROSKOPIE EINER VIELZAHL VON PROBEN
(EN) DEVICE AND METHOD FOR MICROSCOPY ON A PLURALITY OF SAMPLES
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR LA MICROSCOPIE D'UNE PLURALITÉ D'ÉCHANTILLONS
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Mikroskopie (100) einer Vielzahl von Proben (102), wobei die Vorrichtung umfasst: - einen ersten optischen Detektor (106, 108), welcher ausgelegt ist, nacheinander eine Vielzahl von Messpositionen einzunehmen und an jeder Messposition erste Bilddaten (200) einer Probe (104) mit einer ersten räumlichen Auflösung zu erfassen; - eine Bilddatenauswerteeinrichtung, die ausgelegt ist, für jede Probe (202) einen innerhalb der jeweiligen ersten Bilddaten (200) dargestellten, zu untersuchenden Bereich (204) der Probe festzulegen; - einen zweiten optischen Detektor (110, 112), welcher derart an den erstenoptischen Detektor (106, 108) gekoppelt ist, dass der zweite optische Detektor (110, 112) dem ersten optischen Detektor (106, 108) nachfolgt, so dass der zweite optische Detektor (110, 112) Messpositionen einnimmt, die zeitlich vorher der erste optische Detektor (106, 108) eingenommen hatte, und wobei der zweite optische Detektor (110, 112) ausgelegt ist, für jede Probe (202) zweite Bilddaten (300) von dem zu untersuchenden Bereich (204) der jeweiligen Probe (202) mit einer zweiten räumlichen Auflösung zu erfassen, die höher ist als die erste räumliche Auflösung.
(EN)The present invention relates to a device and a method for microscopy (100) of a plurality of samples (102), wherein the device comprises: - a first optical detector (106, 108), which is designed to consecutively adopt a plurality of measuring positions and to detect first image data (200) of a sample (104) with a first spatial resolution at each measuring position; - an image data analyser device which is designed to determine for each sample (202) a region (204) of the sample to be examined represented within the first image data (200) in each case; - a second optical detector (110, 112), which is coupled to the first optical detector (106, 108) in such a manner that the second optical detector (110, 112) tracks the first optical detector (106, 108) and therefore the second optical detector (110, 112) adopts measuring positions which the first optical detector (106, 108) had previously adopted. The second optical detector (110, 112) is designed to detect for each sample (202) respective second image data (300) from the region (204) to be examined in the sample (202) concerned, with a spatial resolution that is higher than the first spatial resolution.
(FR)La présente invention concerne un dispositif et un procédé pour la microscopie (100) d'une pluralité d'échantillons (102), le dispositif comprenant : - un premier détecteur optique (106, 108), conçu pour occuper consécutivement une pluralité de positions de mesure et pour saisir en chaque position de mesure des premières données d'image (200) d'un échantillon (104) à une première résolution spatiale; - un dispositif d'évaluation de données d'image, conçu pour déterminer, pour chaque échantillon (202), une zone à étudier (204) de l'échantillon, représentée au sein des premières données d'image (200) en question; - un deuxième détecteur optique (110, 112), qui est couplé au premier détecteur optique (106, 108) de manière telle que le deuxième détecteur optique (110, 112) suit le premier détecteur optique (106, 108) de manière telle que le deuxième détecteur optique (110, 112) occupe des positions de mesure que le premier détecteur optique (106, 108) occupait précédemment dans le temps, et le deuxième détecteur optique (110, 112) étant conçu pour saisir, pour chaque échantillon (202), des deuxièmes données d'image (300) de la zone (204) à étudier de l'échantillon (202) en question à une deuxième résolution spatiale qui est supérieure à la première résolution spatiale.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)