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1. (WO2014012579) VERFAHREN, WERKZEUG, DATENTRÄGER UND PROGRAMMBAUSTEIN ZUR BEURTEILUNG EINER VERLÄSSLICHKEIT EINER VORRICHTUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2014/012579    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2012/063971
Veröffentlichungsdatum: 23.01.2014 Internationales Anmeldedatum: 17.07.2012
IPC:
G05B 19/418 (2006.01), G05B 23/02 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
RICHTER, Jan [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: RICHTER, Jan; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 80506 München (DE)
Prioritätsdaten:
Titel (DE) VERFAHREN, WERKZEUG, DATENTRÄGER UND PROGRAMMBAUSTEIN ZUR BEURTEILUNG EINER VERLÄSSLICHKEIT EINER VORRICHTUNG
(EN) METHOD, TOOL, DATA CARRIER AND PROGRAMMING MODULE FOR ASSESSING THE RELIABILITY OF A DEVICE
(FR) PROCÉDÉ, OUTIL, SUPPORT DE DONNÉES ET MODULE DE PROGRAMME POUR ÉVALUER LA FIABILITÉ D'UN DISPOSITIF
Zusammenfassung: front page image
(DE)Zur Beurteilung einer Verlässlichkeit (ymean, Pyy) einer Vorrichtung (10) wird ein Verfahren (100) bereitgestellt, das folgende Schritte (110, 120, 130) umfasst: deterministische Auswahl (110) von mehreren Stichproben (xi) aus einem n-dimensionalen Probenraum ({xi}); Ermittlung (120) je einer Verlässlichkeitswahrscheinlichkeit (yi) aus jeder der Stichproben (xi) mittels Transformation (f(xi)) der jeweiligen Stichprobe (xi); und Ermittlung (130) eines Erwartungswertes (ymean) der Verlässlichkeit (ymean, Pyy) und einer Varianz (Pyy) der Verlässlichkeit (ymean, Pyy) aus den ermittelten Verlässlichkeitswahrscheinlichkeiten (yi). Darüberhinaus wird ein entsprechendes Werkzeug (200) zur Beurteilung einer Verlässlichkeit (ymean, Pyy) einer Vorrichtung (10), ein Datenträger mit Programmbaustein und ein entsprechender Programmbaustein bereitgestellt.
(EN)Disclosed is a method (100) for assessing the reliability (ymean, Pyy) of a device (10), said method comprising the following steps (110, 120, 130): deterministic selection (110) of multiple samples (xi) from an n-dimensional sample volume ({xi}); determination (120) of a respective reliability probability (yi) from each of the samples (xi) using a transform (f(xi))for each sample (xi); and determination (130) of an expected value (ymean) of the reliability (ymean, Pyy) and a variance (Pyy) of the reliability (ymean, Pyy) from the reliability probabilities (yi) that have been determined. In addition, a corresponding tool (200) for assessing the reliability (ymean, Pyy) of a device (10), a data carrier comprising a programming module and a corresponding programming module are disclosed.
(FR)L'invention concerne un procédé destiné à évaluer la fiabilité (ymean, Pyy) d'un dispositif (10), ledit procédé comprenant les étapes suivantes (110, 120, 130) : sélection déterministe (110) de plusieurs échantillons pris au hasard (xi) dans un espace pour échantillons n-dimensionnel ({xi}); déterminer (120) chaque fois une probabilité de fiabilité (yi) sur la base de chacun des échantillons pris au hasard (xi), au moyen de la transformation (f(xi)) de chaque échantillon pris au hasard (xi); et déterminer (130) une valeur escomptée (ymean) de la fiabilité (ymean, Pyy) et une variance (Pyy) de la fiabilité (ymean, Pyy) à partir des probabilités de fiabilité déterminées (yi) L'invention concerne en outre un outil (200) correspondant pour évaluer une fiabilité (ymean, Pyy) d'un dispositif (10), un support de données doté d'un module de programme et un module de programme correspondant.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)