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1. (WO2013117667) KONTRASTIERUNGSVERFAHREN MITTELS LASER SOWIE VORRICHTUNG ZUR DURCHFÜHRUNG EINES KONTRASIERUNGSVERFAHRENS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2013/117667    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2013/052471
Veröffentlichungsdatum: 15.08.2013 Internationales Anmeldedatum: 07.02.2013
IPC:
G01N 1/32 (2006.01)
Anmelder: ARGES GMBH [DE/DE]; Werk 4 92442 Wackersdorf (DE)
Erfinder: BERGER, Manuel; (DE).
SCHWAB, Daniel; (DE).
GUGGENMOS, Markus; (DE)
Vertreter: MEISSNER, BOLTE & PARTNER; Widenmayerstr. 47-50 80538 München (DE)
Prioritätsdaten:
10 2012 002 744.3 10.02.2012 DE
Titel (DE) KONTRASTIERUNGSVERFAHREN MITTELS LASER SOWIE VORRICHTUNG ZUR DURCHFÜHRUNG EINES KONTRASIERUNGSVERFAHRENS
(EN) LASER CONTRASTING METHOD AND APPARATUS FOR CARRYING OUT A CONTRASTING METHOD
(FR) PROCÉDÉ PERMETTANT D'OBTENIR UN CONTRASTE AU MOYEN D'UN LASER ET SON DISPOSITIF DE MISE EN OEUVRE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Kontrastierungsverfahren mittels Laser, wobei die Oberfläche einer materialografisch zu analysierenden Probe partiell einem Poliervorgang unterzogen wird und anschließend mit mindestens einem Laserstrahl derart bearbeitet wird, dass aufgrund der thermischen Ausdehnung der Körner der bearbeiteten Probenoberfläche ein Gefügebild erhalten wird, welches, insbesondere mit Hilfe eines Lichtmikroskops, materialografisch analysierbar ist.
(EN)The invention relates to a laser contrasting method, wherein the surface of a specimen that is intended to undergo materialographic analysis is partially subjected to a polishing operation and subsequently worked with at least one laser beam in such a way that, as a result of the thermal expansion of the grains of the worked surface of the specimen, a microstructure that can undergo materialographic analysis, in particular with the aid of an optical microscope, is obtained.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant d'obtenir un contraste au moyen d'un laser, selon lequel la surface d'un échantillon à analyser par métallographie est partiellement soumise à un processus de polissage, puis est usinée par au moins un rayon laser de telle sorte que la dilatation thermique des grains de la surface d'échantillon usinée permet d'obtenir une image structurale qui peut être analysée par métallographie en particulier à l'aide d'un microscope optique.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)