WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2011061225) TESTBELEUCHTUNGSSYSTEM UND VERFAHREN ZUM TESTEN EINER QUALITÄT EINES PHOTOVOLTAISCHEN SYSTEMS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2011/061225    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2010/067682
Veröffentlichungsdatum: 26.05.2011 Internationales Anmeldedatum: 17.11.2010
IPC:
G01J 1/08 (2006.01), G01J 1/04 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
MUSCHAWECK, Julius [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: MUSCHAWECK, Julius; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 80506 München (DE)
Prioritätsdaten:
09014416.3 18.11.2009 EP
Titel (DE) TESTBELEUCHTUNGSSYSTEM UND VERFAHREN ZUM TESTEN EINER QUALITÄT EINES PHOTOVOLTAISCHEN SYSTEMS
(EN) TEST LIGHTING SYSTEM AND METHOD FOR TESTING A QUALITY OF A PHOTOVOLTAIC SYSTEM
(FR) SYSTÈME D'ÉCLAIRAGE DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST DE LA QUALITÉ D'UN SYSTÈME PHOTOVOLTAÏQUE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Testbeleuchtungssystem (2) zum Testen einer Qualität eines photovoltaischen Systems (5). Das Testbeleuchtungssystem (2) umfasst eine künstliche Lichtquelle (27, 28), eine Primäroptik (1, 1', 1'', 41) und eine Sekundäroptik (3) mit einem Mikrolinsenarray (19), die so ausgebildet und zueinander ausgerichtet sind, dass die Primäroptik (1, 1', 1'') Licht (9) der Lichtquelle (27) innerhalb eines vordefinierten Einstrahlwinkelbereichs (α) kollimiert und damit eine Eintrittsseite des Mikrolinsenarrays (19) der Sekundäroptik (3) gleichmäßig beleuchtet und dass das aus einer Austrittsseite des Mikrolinsenarrays (19) austretende Licht (9') auf einer Beleuchtungsfläche innerhalb eines definierten Test-Akzeptanzwinkelbereichs liegt und eine gleichmäßige Winkelverteilung aufweist. Außerdem umfasst die Erfindung ein Verfahren zum Testen einer Qualität eines photovoltaischen Systems sowie eine Testeinrichtung (80) mit einem solchen Testbeleuchtungssystem (2).
(EN)The invention relates to a test lighting system (2) for testing a quality of a photovoltaic system (5). The test lighting system (2) comprises an artificial light source (27, 28), a primary optic (1, 1', 1'', 41) and a secondary optic (3) having a microlens array (19) implemented and aligned to each other so that the primary optic (1, 1', 1'', 41) collimates light (9) of the light source (27) within a predefined range of angle of incidence (α) and thereby uniformly illuminates an inlet side of the microlens array (19) of the secondary optic (3), and wherein the light (9') exiting from an outlet side of the microlens array (19) impinges on an illumination area within a defined test acceptance angle range and comprises uniform angle distribution. The invention further relates to a method for testing a quality of a photovoltaic system and a test device (80) having such a test lighting system (2).
(FR)L'invention concerne un système d'éclairage de test (2) pour tester la qualité d'un système photovoltaïque (5). Le système d'éclairage de test (2) comporte une source de lumière artificielle (27, 28), une optique primaire (1, 1', 1'', 41) et une optique secondaire (3) pourvue d'un réseau de micro-lentilles (19), conçues et orientées de telle manière l'une par rapport à l'autre que l'optique primaire (1, 1', 1'') réalise une collimation de la lumière (9) issue de la source de lumière (27) à l'intérieur d'une zone angulaire d'irradiation prédéfinie (α) et éclaire ainsi uniformément un côté d'entrée du réseau de micro-lentilles (19) de l'optique secondaire (3), et que la lumière (9') sortant d'un côté de sortie du réseau de micro-lentilles (19) est située sur une surface d'éclairage à l'intérieur d'une zone angulaire acceptable de test, définie, et présente une distribution angulaire uniforme. L'invention concerne également un procédé de test de la qualité d'un système photovoltaïque et un dispositif de test (80) comportant un tel système d'éclairage de test (2).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)