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1. (WO2011036096) MIKROSKOP
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2011/036096    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2010/063667
Veröffentlichungsdatum: 31.03.2011 Internationales Anmeldedatum: 17.09.2010
IPC:
G02B 21/06 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena (DE) (For All Designated States Except US).
LIPPERT, Helmut [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WOLLESCHENSKY, Ralf [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HAUSCHILD, Robert [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: LIPPERT, Helmut; (DE).
WOLLESCHENSKY, Ralf; (DE).
HAUSCHILD, Robert; (DE)
Vertreter: GEYER, FEHNERS & PARTNER (G.B.R.); Sellierstraße 1 07745 Jena (DE)
Prioritätsdaten:
10 2009 044 986.8 24.09.2009 DE
Titel (DE) MIKROSKOP
(EN) MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, welches eine Beleuchtungseinrichtung (19), mit der ein Lichtblatt zur Beleuchtung eines Probenbereichs (P) erzeugt wird, welches in Richtung einer Beleuchtungsachse (X) eines Beleuchtungsstrahlenganges (35) und in Richtung einer Querachse (Y), welche quer zur Beleuchtungsachse (X) liegt, annähernd flächig ausgedehnt ist, sowie eine Detektierungseinrichtung (1), mit der Licht detektiert wird, welches entlang einer Detektierungsachse (Z) eines Detektierungsstrahlengangs aus dem Probenbereich (P) abgestrahlt wird, wobei Beleuchtungsachse (X) und Detektierungsachse (Z), sowie Querachse (Y) und Detektierungsachse (Z) in einem von Null verschiedenen Winkel aufeinander stehen, umfaßt. Die Beleuchtungseinrichtung (19) umfaßt auch Mittel zur Umlenkung von Beleuchtungslicht in einen weiteren Beleuchtungsstrahlengang (36) und zur Erzeugung eines weiteren Lichtblatts, wobei das Lichtblatt und das weitere Lichtblatt den Probenbereich (P) auf der gleichen Beleuchtungsachse (X) aus entgegengesetzten Richtungen beleuchten, sowie Umschaltmittel zur Umschaltung des Beleuchtungslichts zwischen dem Beleuchtungsstrahlengang (35) und dem weiteren Beleuchtungsstrahlengang (36). Die Detektierungseinrichtung (1) umfaßt auch ein Detektierungsobjektiv (2) zur Abbildung von aus dem Probenbereich (P) abgestrahltem Licht auf einen ortsauflösenden Flächendetektor (4) zur ortsabhängigen Detektierung des Lichts. Bei einem solchen Mikroskop umfassen die Umschaltmittel ein schnell schaltbares Umschaltelement mit einer Schaltzeit von weniger als 10 ms, wobei eine vorgegebene Integrationszeit des Flächendetektors (4) und die Schaltzeit des Umschaltelements so aufeinander abgestimmt sind, daß der Probenbereich (P) während der Integrationszeit auf der Beleuchtungsachse (X) mindestens einmal aus jeder Richtung beleuchtet wird.
(EN)The invention relates to a microscope comprising an illumination device (19) which produces a sheet of light to illuminate a sample region (P), said sheet having an approximately planar extension in the direction of an illumination axis (X) of an illumination beam path (35) and in the direction of a transverse axis (Y) lying at a right angle to the illumination axis (X). The microscope further comprises a detection device (1) used to detect light that is emitted by the sample region (P) along an axis of detection (Z) of a detection beam path, the illumination axis (X) and the axis of detection (Z) as well as the transverse axis (Y) and the axis of detection (Z) being oriented relative each other at an angle unequal zero. The illumination device (19) also comprises means for deflecting illumination light to an additional illumination beam path (36) and for producing an additional sheet of light, the sheet of light and the additional sheet of light illuminating the sample region (P) on the same illumination axis (X) from opposite directions, and switching means for switching the illumination light between the illumination beam path (35) and the additional illumination beam path (36). The detection device (1) also comprises a detection lens system (2) for imaging light reflected by the sample region (P) onto a spatially resolved surface detector (4) for the location-dependent detection of the light. The switching means of the microscope according to the invention comprise a rapidly switchable switching element with a switching time of less than 10 ms, a predetermined integration time of the surface detector (4) and the switching time of the switching element being synchronized such that the sample region (P) is illuminated on the illumination axis (X) at least once from every direction during the integration time.
(FR)L'invention concerne un microscope comportant un dispositif d'éclairage (19) permettant de produire un feuillet lumineux pour l'éclairage d'une zone d'échantillon (P), s'étendant de façon approximativement plane en direction d'un axe d'éclairage (X) d'une trajectoire de faisceau d'éclairage (35) et en direction d'un axe transversal (Y) perpendiculaire à l'axe d'éclairage (X), et comportant également un dispositif de détection (1) permettant de détecter de la lumière émise depuis la zone d'échantillon (P) le long d'un axe de détection (Z) d'une trajectoire de faisceau de détection. L'axe d'éclairage (X) et l'axe de détection (Z), et l'axe transversal (Y) et l'axe de détection (Z) forment un angle non nul. Le dispositif d'éclairage (19) comporte par ailleurs des éléments de déviation de la lumière d'éclairage dans une autre trajectoire de faisceau d'éclairage (36) et de production d'un autre feuillet lumineux, le feuillet lumineux et l'autre feuillet lumineux éclairant la zone d'échantillon (P) sur le même axe d'éclairage (X), dans des sens opposés. Le dispositif d'éclairage (19) comporte également des éléments de commutation pour commuter la lumière d'éclairage entre la trajectoire de faisceau d'éclairage (35) et l'autre trajectoire de faisceau d'éclairage (36). Le dispositif de détection (1) comporte également un objectif de détection (2) pour reproduire de la lumière émise depuis la zone d'échantillon (P) sur un détecteur de surface (4) à résolution spatiale, destiné à la détection spatiale de la lumière. Dans un tel microscope, les éléments de commutation comportent un élément de commutation à commutation rapide ayant une durée de commutation inférieure à 10 ms. Une durée d'intégration prédéfinie du détecteur de surface (4) et la durée de commutation de l'élément de commutation sont adaptées l'une à l'autre de telle manière qu'au cours de la durée d'intégration, la zone d'échantillon (P) est éclairée au moins une fois dans chaque sens sur l'axe d'éclairage (X).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)