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1. (WO2011003917) ÜBERWACHUNG DES EFFEKTIVEN LEBENSALTERS VON ELEKTRONISCHEN BAUTEILEN ODER BAUGRUPPEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2011/003917    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2010/059662
Veröffentlichungsdatum: 13.01.2011 Internationales Anmeldedatum: 06.07.2010
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
Anmelder: CONTI TEMIC MICROELECTRONIC GMBH [DE/DE]; Sieboldstraße 19 90411 Nürnberg (DE) (For All Designated States Except US).
FRIEDRICH, Ferdinand [DE/DE]; (DE) (For US Only).
GREIF, Andreas [DE/DE]; (DE) (For US Only).
GREUL, Roland [AT/AT]; (AT) (For US Only)
Erfinder: FRIEDRICH, Ferdinand; (DE).
GREIF, Andreas; (DE).
GREUL, Roland; (AT)
Vertreter: BONN, Roman; c/o Continental Automotive GmbH Postfach 22 16 39 80506 München (DE)
Prioritätsdaten:
10 2009 032 063.6 07.07.2009 DE
Titel (DE) ÜBERWACHUNG DES EFFEKTIVEN LEBENSALTERS VON ELEKTRONISCHEN BAUTEILEN ODER BAUGRUPPEN
(EN) MONITORING THE EFFECTIVE AGE OF ELECTRONIC COMPONENTS OR ASSEMBLIES
(FR) SURVEILLANCE DE L'ÂGE EFFECTIF DE COMPOSANTS OU DE BLOCS ÉLECTRONIQUES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Verfahren zur Bestimmung der Restlebensdauer eines elektronischen Bauteils bzw. einer elektronischen Baugruppe, bei dem ab dem Zeitpunkt der Inbetriebnahme des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe Anzahl und Größe von zeitlichen Veränderungen der Temperaturen des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe und/oder von einem oder mehreren ausgewählten Bereichen des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe ermittelt und aufgezeichnet werden, wobei zu jeweils vorgegebenen Zeitpunkten nach der Inbetriebnahme des elektronischen Bauteils bzw. der elektronischen Baugruppe auf Grundlage der ermittelten Temperaturänderungen die Restlebensdauer des elektronischen Bauteils oder der elektronischen Baugruppe errechnet wird.
(EN)The invention relates to a method for determining the residual life of an electronic component or of an electronic assembly, wherein, starting from the time at which the electronic component or the electronic assembly is put into operation, the number and extent of temporal changes of the temperatures of the electronic component or of the electronic assembly, and/or of one or more select areas of the electronic component or of the electronic assembly are determined and recorded, wherein at the respectively predetermined times after the electronic component or the electronic assembly was put into operation, the residual life of the electronic component or of the electronic assembly is calculated on the basis of the temperature changes that were determined.
(FR)L'invention porte sur un procédé pour déterminer la durée de vie résiduelle d'un composant électronique ou d'un bloc électronique, dans lequel, à partir du moment de la mise en service du composant électronique ou du bloc électronique, on détermine le nombre et la taille de modifications temporelles des températures du composant électronique ou du bloc électronique et/ou d'une ou plusieurs zones sélectionnées du composant électronique ou du bloc électronique, et on les enregistre, procédé dans lequel, à des instants prédéfinis après la mise en service du composant électronique ou du bloc électronique, on calcule, sur la base des variations de température ainsi déterminées, la durée de vie résiduelle du composant électronique ou du bloc électronique.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)