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1. (WO2010017805) WERKSTOFFPROBE ZUM TEST VON BIAXIALEN SPANNUNGSZUSTÄNDEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2010/017805    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE2009/001093
Veröffentlichungsdatum: 18.02.2010 Internationales Anmeldedatum: 01.08.2009
IPC:
G01N 3/16 (2006.01)
Anmelder: MTU AERO ENGINES GMBH [DE/DE]; Dachauer Strasse 665 80995 München (DE) (For All Designated States Except US).
PIRKER, Klaus [AT/CA]; (CA) (For US Only)
Erfinder: PIRKER, Klaus; (CA)
Allgemeiner
Vertreter:
MTU AERO ENGINES GMBH [DE/DE]; Intellectual Property Management Postfach 50 06 40 80976 München (DE)
Prioritätsdaten:
10 2008 037 760.0 14.08.2008 DE
Titel (DE) WERKSTOFFPROBE ZUM TEST VON BIAXIALEN SPANNUNGSZUSTÄNDEN
(EN) MATERIAL SAMPLE FOR TESTING BIAXIAL STRESS CONDITIONS
(FR) ÉCHANTILLON DE MATÉRIAU POUR L'ESSAI DE MATÉRIAUX SOUS CONTRAINTE BIAXIALE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Es ist eine Werkstoffprobe zur Prüfung von Materialeigenschaften bei biaxialer Belastung sowie eine Verfahren dazu beschrieben. Die Werkstoffprobe ist kreisscheibenförmig und hat zur Drehung um ihre Mittelachse eine angeformte Nabe. Der Rand der Werkstoffprobe und die Nabe sind dicker als der dazwischen liegende Ringabschnitt der Werkstoffprobe. In einer ausgeführten Form hat der Ringabschnitt eine zur Nabe konzentrische ringförmige Hohlkehle ausgebildet die Hohlkehle kann sich vom Rand bis zur Nabe erstrecken und eine über ihre Breite kontinuierliche Krümmung haben. Indem Verfahren wird die um ihre Mittelachse mit mindestens 100 000 min-1, vorzugsweise mit 150 000 min-1 ± 10 000 min-1 gedreht.
(EN)The invention relates to a material sample for testing material properties under biaxial stress and to a method therefor. The material sample has a circular disk shape and for rotation about the center line thereof is provided with an integrally formed hub. The edge of the material sample and the hub are thicker than the ring section of the material sample located in between. In one embodiment, the ring section is designed with an annular concave fillet concentric to the hub, and the concave fillet may extend from the edge to the hub and have a continuous curvature over the width thereof. In the method it is rotated about the center line thereof with at least 100,000 rpm, preferably with 150,000 rpm ± 10,000 rpm.
(FR)L'invention concerne un échantillon de matériau pour l'essai de propriétés de matériau sous contrainte biaxiale ainsi qu'un procédé associé. L'échantillon de matériau se présente sous la forme d'une plaque circulaire et comporte un moyeu façonné permettant la rotation de l'échantillon autour de son axe central. Le bord de l'échantillon de matériau et le moyeu sont plus épais que la partie annulaire de l'échantillon de matériau, qui se trouve entre le bord et le moyeu. Selon un mode de réalisation, la partie annulaire comporte une gorge annulaire concentrique par rapport au moyeu, ladite gorge pouvant s'étendre du bord au moyeu et présenter une courbure continue sur sa largeur. Selon le procédé, l'échantillon de matériau est entraîné en rotation autour de son axe central à au moins 100 000 tr/min, de préférence à 150 000 tr/min ± 10 000 tr/min.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)