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1. (WO2010012468) GIESSSPIEGELMESSUNG IN EINER KOKILLE DURCH EIN FASEROPTISCHES MESSVERFAHREN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2010/012468    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2009/005529
Veröffentlichungsdatum: 04.02.2010 Internationales Anmeldedatum: 30.07.2009
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    21.11.2009    
IPC:
B22D 2/00 (2006.01), B22D 11/18 (2006.01), B22D 11/20 (2006.01), G01F 23/22 (2006.01), G01F 23/292 (2006.01), G01K 11/32 (2006.01)
Anmelder: SMS SIEMAG AG [DE/DE]; Eduard-Schloemann-Strasse 4 40237 Düsseldorf (DE) (For All Designated States Except US).
ARZBERGER, Matthias [DE/DE]; (DE) (For US Only).
LIEFTUCHT, Dirk [DE/DE]; (DE) (For US Only).
PLOCIENNIK, Uwe [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: ARZBERGER, Matthias; (DE).
LIEFTUCHT, Dirk; (DE).
PLOCIENNIK, Uwe; (DE)
Vertreter: KLÜPPEL, Walter; Patentanwälte Hemmerich & Kollegen Hammerstr. 2 57072 Siegen (DE)
Prioritätsdaten:
10 2008 035 608.5 31.07.2008 DE
10 2008 060 032.6 02.12.2008 DE
Titel (DE) GIESSSPIEGELMESSUNG IN EINER KOKILLE DURCH EIN FASEROPTISCHES MESSVERFAHREN
(EN) CASTING LEVEL MEASUREMENT IN A MOLD BY MEANS OF A FIBER OPTIC MEASURING METHOD
(FR) MESURE DU NIVEAU DU BAIN DE COULÉE DANS UN MOULE PAR PROCÉDÉ DE MESURE À FIBRE OPTIQUE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung stellt ein Verfahren zur Gießspiegelmessung in einer Kokille mittels Sonden zur faseroptischen Temperaturerfassung, die in der Kokillen-Kupferplatte auf Höhe des Gießspiegels angeordnet werden, dar. Die Erfindung umfasst weiterhin entsprechende Sonden. In diesen Sonden werden Lichtwellenleiter angeordnet, die durch ein geeignetes Temperaturauswertungssystem eine einfache und zuverlässige und hoch-ortsaufgelöste Temperaturüberwachung auf Höhe des Gießspiegels erlauben. Mithilfe der durch die Sonden ermittelten Temperaturen kann dann auf die genaue Höhe des Gießspiegels geschlossen werden. Weiterhin kann die Form der Gießspiegelwelle bestimmt werden, wodurch weitere Parameter des Gießvorgangs zugänglich werden.
(EN)The invention provides a method for the cast level measurement in a mold by means of sensors for fiber optic temperature detection, which are disposed in the mold copper plate at the height of the casting level. The invention further comprises respective sensors. Fiber optic cables are disposed in said sensors, which allow simple, reliable and highly locally resolved temperature monitoring at the height of the casting level by means of a suitable temperature analysis system. By means of the temperatures determined by the sensors, a conclusion can be made as to the exact height of the casting level. Furthermore, the shape of the casting level shaft may be determined by means of which further parameters of the casting process become accessible.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure du niveau du bain de coulée dans un moule au moyen de sondes pour détection, à fibre optique, de la température, lesquelles sont disposées dans la plaque de cuivre du moule, à la hauteur du niveau de coulée. L'invention concerne en outre les sondes correspondantes. Des guides d'ondes optiques sont disposés dans lesdites sondes, ces guides d'ondes optiques permettant un contrôle de température simple, fiable et localement à haute résolution, à la hauteur du niveau du bain de coulée, au moyen d'un système d'évaluation de la température approprié. A l'aide des températures déterminées par les sondes, on peut obtenir une conclusion relative à la hauteur exacte du niveau du bain de coulée. En outre, la forme de la tige du niveau du bain de coulée peut être déterminée, grâce à quoi d'autres paramètres du processus de coulée deviennent accessibles.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)