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1. WO2009043472 - VERFAHREN ZUR MIKROSKOPISCHEN DREIDIMENSIONALEN ABBILDUNG EINER PROBE

Veröffentlichungsnummer WO/2009/043472
Veröffentlichungsdatum 09.04.2009
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2008/007686
Internationales Anmeldedatum 16.09.2008
IPC
G02B 21/00 2006.01
GPhysik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
21Mikroskope
G02B 21/24 2006.01
GPhysik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
21Mikroskope
24Grundlegender Aufbau
G02B 21/36 2006.01
GPhysik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
21Mikroskope
36für fotografische oder Projektionszwecke
CPC
G02B 21/002
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
G02B 21/244
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
24Base structure
241Devices for focusing
244using image analysis techniques
G02B 21/367
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
367providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
G06T 7/97
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
97Determining parameters from multiple pictures
Anmelder
  • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE (AllExceptUS)
  • LIPPERT, Helmut [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • RADT, Benno [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • KEMPE, Michael [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • DIETRICH, Christian [DE/DE]; DE (UsOnly)
Erfinder
  • LIPPERT, Helmut; DE
  • RADT, Benno; DE
  • KEMPE, Michael; DE
  • DIETRICH, Christian; DE
Vertreter
  • HAMPE, Holger; Carl Zeiss Jena GmbH Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
Prioritätsdaten
10 2007 045 897.726.09.2007DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN ZUR MIKROSKOPISCHEN DREIDIMENSIONALEN ABBILDUNG EINER PROBE
(EN) METHOD FOR THE MICROSCOPIC THREE-DIMENSIONAL REPRODUCTION OF A SAMPLE
(FR) PROCÉDÉ DE REPRÉSENTATION TRIDIMENSIONNELLE MICROSCOPIQUE D'UN ÉCHANTILLON
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur dreidimensionalen Abbildung einer Probe, bei dem Bildinformationen aus unterschiedlichen Ebenen in der Tiefe der Probe ortsaufgelöst gespeichert werden und anschließend aus diesen Bildin formationen das dreidimensionale Bild der Probe rekonstruiert wird. Bei einem derartigen Verfahren, das sich auf die Methode der Selective-Plane-Illumination-Microscopy (SPIM) bezieht, ist erfindungsgemäß vorgesehen, daß - das Beleuchtungslicht mit einer Referenzstruktur beaufschlagt wird, - mindestens ein fluoreszierendes Referenzobjekt neben oder in der Probe positioniert wird, - aus mindestens einer Detektionsrichtung Bilder von der Referenzstruktur des Beleuchtungslichts, des Referenzobjektes oder einer als Referenzstruktur geeigneten Probenstruktur aufgenommen und bewertet werden, - anhand des Ergebnisses das Lichtblatt in eine optimale Position gebracht wird, - aus mehreren Detektionsrichtungen Bildinformationen von dem Referenzobjekt und von der Probe gespeichert werden, - anhand der vom Referenzobjekt gespeicherten Bildinformationen Transformationsoperatoren gewonnen und diese der Rekonstruktion der dreidimensionalen Abbildung der Probe aus den von der Probe gespeicherten Bildinformationen zugrunde gelegt werden.
(EN)
The invention relates to methods for the three-dimensional reproduction of a sample, according to which image information from different depth planes of the sample is stored in a locally resolved manner and the three-dimensional image of the sample is then reconstructed from said image information. In a method of this type relating to selective plane illumination microscopy (SPIM), a reference structure is applied to the illumination light, at least one fluorescent reference object is positioned next to or in the sample, images of the reference structure for the illumination light, for the reference objects or of a sample structure that is suitable for use as a reference structure are captured from at least one detection direction and evaluated, the light layer is brought into an optimal position using the result, image information for the reference object and for the sample that has been captured from several detection directions is stored, the image information stored for the reference object is used to obtain transformation operators and these form the basis of the reconstruction of the three-dimensional reproduction of the sample from the image information that has been stored for the sample.
(FR)
La présente invention concerne un procédé de représentation tridimensionnelle d'un échantillon, des informations d'image étant enregistrées depuis différents plans dans la profondeur de l'échantillon avec une résolution locale, puis l'image tridimensionnelle de l'échantillon étant reconstituée à partir de ces informations d'image. Un tel procédé qui repose sur la méthode de microscopie par éclairage de plan sélectif (Selective-Plane-Illumination-Microscopy / SPIM), consiste selon l'invention à : donner à la lumière d'éclairage une structure de référence; positionner au moins un objet de référence fluorescent à côté ou dans l'échantillon; à partir d'au moins une direction de détection, prendre et évaluer des images de la structure de référence de la lumière d'éclairage, de l'objet de référence ou d'une structure d'échantillon convenant en tant que structure de référence; à partir du résultat, mettre la feuille de lumière dans une position optimale; à partir de différentes directions de détection, enregistrer des informations d'image de l'objet de référence et de l'échantillon; à partir des informations d'images enregistrées de l'objet de référence, acquérir des opérateurs de transformation et les utiliser pour reconstituer le représentation tridimensionnelle de l'échantillon à partir des informations d'image enregistrées de l'échantillon.
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