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1. (WO2009036726) VERFAHREN ZUR TOMOGRAPHISCHEN REKONSTRUKTION EINER MESSGRÖSSE DURCH GEZIELTE BESTIMMUNG DER MESSPUNKTE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2009/036726    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/DE2008/001384
Veröffentlichungsdatum: 26.03.2009 Internationales Anmeldedatum: 20.08.2008
IPC:
G06T 11/00 (2006.01), G01R 19/08 (2006.01)
Anmelder: FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBH [DE/DE]; 52425 Jülich (DE) (For All Designated States Except US).
RWTH AACHEN [--/DE]; Templergraben 55 52056 Aachen (DE) (For All Designated States Except US).
FACHHOCHSCHULE AACHEN [--/DE]; Abt. Jülich, Ginsterweg 1, 52428 Jülich (DE) (For All Designated States Except US).
STEFFEN, Bernhard [DE/DE]; (DE) (For US Only).
LUSTFELD, Hans [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HIRSCHFELD, Julian [DE/DE]; (DE) (For US Only).
REISSEL, Martin [DE/DE]; (DE) (For US Only).
SCHMIDT, Uli [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: STEFFEN, Bernhard; (DE).
LUSTFELD, Hans; (DE).
HIRSCHFELD, Julian; (DE).
REISSEL, Martin; (DE).
SCHMIDT, Uli; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBH; Fachbereich Patente 52425 Jülich (DE)
Prioritätsdaten:
10 2007 044 257.4 17.09.2007 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR TOMOGRAPHISCHEN REKONSTRUKTION EINER MESSGRÖSSE DURCH GEZIELTE BESTIMMUNG DER MESSPUNKTE
(EN) METHOD FOR TOMOGRAPHIC RECONSTRUCTION OF A MEASUREMENT VARIABLE BY SPECIFIC DETERMINATION OF THE MEASUREMENT POINTS
(FR) PROCÉDÉ DE RECONSTRUCTION TOMOGRAPHIQUE D'UNE GRANDEUR DE MESURE PAR DÉTERMINATION DIRIGÉE DES POINTS DE MESURE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur tomographischen Rekonstruktion der Verteilung einer Messgröße innerhalb einer Probe aus Werten einer Hilfsgröße, Verfahren zur Bestimmung optimaler Messorte für die Hilfsgröße sowie Vorrichtungen zur Durchführung der Verfahren. Erfindungsgemäß werden bei der Ermittlung der Verteilung der Messgröße die Werte der Hilfsgröße an Hand eines Relevanzmaßes gewichtet. Relevanzmaße können beispielsweise messen, wie stark der am bewerteten Ort gemessene Wert der Hilfsgröße auf Änderungen der Messgröße reagiert, wie groß die auflösbaren Strukturen in der rekonstruierten Verteilung der Messgröße sind, die bei einer Änderung des am bewerteten Ort gemessenen Wertes der Hilfsgröße geändert werden, oder wie viel Information über die gesamte Verteilung der Messgröße in dem am bewerteten Ort gemessenen Wert der Hilfsgröße enthalten ist. Dadurch wird es möglich, dass aus weit weniger aufgenommenen Werten der Hilfsgröße bessere Informationen über die Verteilung der Messgröße in der Probe gewonnen werden können als nach dem Stand der Technik.
(EN)The invention relates to a method for the tomographic reconstruction of the distribution of a measurement variable within a sample from values of an auxiliary variable, a method for determining the optimum measurement points for the auxiliary variable, as well as apparatuses for carrying out the methods. According to the invention, when determining the distribution of the measurement variable, the values of the auxiliary variable are weighted on the basis of a relevance measure. Relevance measures can, for example, measure how strongly the value of the auxiliary variable measured at the assessed location reacts to changes in the measurement variable, how large the resolveable structures in the reconstructed distribution of the measurement variable are which are changed in the event of a change in the value of the auxiliary variable measured at the assessed point, or how much information about the overall distribution of the measurement variable is contained in the value of the auxiliary variable measured at the assessed point. It is thus possible to obtain better information, from far fewer recorded values of the auxiliary variable, about the distribution of the measurement variable in the sample than according to the prior art.
(FR)L'invention concerne un procédé pour la reconstruction tomographique de la répartition d'une grandeur de mesure à l'intérieur d'un échantillon à partir de valeurs d'une grandeur auxiliaire, un procédé pour déterminer des lieux de mesure optimaux pour la grandeur auxiliaire ainsi que des dispositifs pour mettre lesdits procédés en oeuvre. Selon l'invention, lors de la détermination de la répartition de la grandeur de mesure, les valeurs de la grandeur auxiliaire sont pondérées à l'aide d'un indice de pertinence. Les indices de pertinence peuvent mesurer, par exemple, l'intensité avec laquelle la valeur de la grandeur auxiliaire, mesurée sur le lieu évalué, réagit à des modifications de la grandeur de mesure; la taille des structures pouvant être résolues dans la répartition reconstruite de la grandeur de mesure qui sont modifiées lors d'une modification de la valeur de la grandeur auxiliaire, mesurée sur le lieu évalué; ou le nombre d'informations sur la répartition totale de la grandeur de mesure sont contenues dans la valeur de la grandeur auxiliaire, mesurée sur le lieu évalué. Cela permet, à partir de beaucoup moins de valeurs enregistrées de la grandeur auxiliaire, de pouvoir acquérir des informations sur la répartition de la grandeur de mesure dans l'échantillon, qui sont meilleures que celles obtenues selon l'état de la technique.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)