(DE) Die Erfindung betrifft ein Verfahren für die Kalibrierung eines Sensorsystems. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren ist es vorgesehen zwei Kalibriermedien einzusetzen. Ein hochwertiges erstes Kalibriermedium (10), mit einer standardisierten Referenz, das vom zu kalibrierenden Sensorsystem unabhängig ist, wird einmalig, z. B. bei der Herstellung oder nach einer Reparatur des Sensorsystems für einen ersten Kalibrierungsschritt eingesetzt, bei dem das Sensorsystem kalibriert und eingestellt wird. In einem sich unmittelbar anschließenden zweiten Kalibrierungsschritt wird ein zweites Kalibriermedium, mit einer nicht standardisierten Referenz, das Bestandteil des Sensorsystems ist, verwendet, um Meßsignale von dem zweiten Kalibriermedium (6) mit mindestens einem Sensor (3) des Sensorsystems zu erzeugen und zu speichern. Im Kalibriermodus wird bei nachfolgenden Kalibrierungen des Sensorsystems ausschließlich das zweite Kalibriermedium verwendet, um erneut Meßsignale von dem zweiten Kalibriermedium mit dem Sensor (3) zu erzeugen. Weisen die bei den nachfolgenden Kalibrierungen erzeugten Meßsignale Abweichungen zu den gespeicherten Meßsignalen des zweiten Kalibrierungsschritts auf, wird eine Einstellung des Sensors (3) vorgenommen, wozu beispielsweise Korrekturfaktoren bestimmt werden, welche die festgestellten Abweichungen ausgleichen.
(EN) The invention relates to a method for calibrating a sensor system. The method according to the invention provides for using two calibration media. A high-quality first calibration medium (1), having a standardized reference that is independent of the sensor system to be calibrated, is used once, such as upon manufacture or after a repair of the sensor system, for a first calibration step, in which the sensor system is calibrated and adjusted. In an immediately subsequent second calibration step, a second calibration medium having a non-standardized reference and being part of the sensor system is used in order to generate and store measurement signals from the second calibration medium (6) by means of at least one sensor (3) of the sensor system. In the calibration mode, the second calibration medium is used exclusively in the subsequent calibration of the sensor system, in order to generate new measurement signals from the second calibration medium by means of the sensor (3). If the measurement signals generated in the subsequent calibrations deviate from the stored measurement signals of the second calibration step, the sensor (3) is adjusted, correction factors being determined, for example, to compensate for the detected deviations.
(FR) L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système détecteur. D'après le procédé selon l'invention, on utilise deux moyens d'étalonnage. Un premier moyen d'étalonnage (10) de haute qualité, de référence standard et indépendant du système détecteur à étalonner, est utilisé une seule fois, par exemple lors de la fabrication ou après une réparation du système détecteur, pour une première étape d'étalonnage au cours de laquelle le système détecteur est étalonné et réglé. Au cours d'une seconde étape d'étalonnage immédiatement consécutive, on utilise un second moyen d'étalonnage, de référence non standard et faisant partie du système détecteur, afin de produire et de mémoriser, avec au moins un détecteur (3) du système détecteur, des signaux de mesure provenant du second moyen d'étalonnage (6). En mode d'étalonnage, lors d'étalonnages suivants du système détecteur, on utilise exclusivement le second moyen d'étalonnage, pour produire à nouveau avec le détecteur (3) des signaux de mesure provenant du second moyen d'étalonnage. Si les signaux de mesure produits lors des étalonnages suivants présentent des écarts par rapport aux signaux de mesure mémorisés de la seconde étape d'étalonnage, on effectue un réglage du détecteur (3); à cet effet, on détermine par exemple des facteurs de correction qui compensent les écarts constatés.