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1. (WO2008019654) VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG EINES FERTIGUNGSVERFAHRENS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2008/019654    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/DE2007/001393
Veröffentlichungsdatum: 21.02.2008 Internationales Anmeldedatum: 04.08.2007
IPC:
G05B 19/406 (2006.01), G05B 19/418 (2006.01), G05B 23/02 (2006.01)
Anmelder: MTU AERO ENGINES GMBH [DE/DE]; Dachauer Strasse 665, 80995 München (DE) (For All Designated States Except US).
ECKSTEIN, Martin [DE/DE]; (DE) (For US Only).
BREITKOPF, Günter [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: ECKSTEIN, Martin; (DE).
BREITKOPF, Günter; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
MTU AERO ENGINES GMBH; Intellectual Property Management, Postfach 50 06 40, 80976 München (DE)
Prioritätsdaten:
10 2006 037 952.7 12.08.2006 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR ÜBERWACHUNG EINES FERTIGUNGSVERFAHRENS
(EN) METHOD FOR MONITORING A PRODUCTION PROCESS
(FR) PROCÉDÉ DESTINÉ À SURVEILLER UN PROCÉDÉ DE FABRICATION
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur qualitätsrelevanten Überwachung eines Fertigungsverfahrens mit zumindest den folgenden Schritten: a) Zerlegen des Fertigungsverfahrens in eine Abfolge aus Einzelschritten, die durch eine Sequenz von Steuerbefehlen eines Fertigungsprogramms, welches zur Ausführung des Fertigungsverfahrens auf einer Werkzeugmaschine auszuführen ist, definiert werden; b) Generieren mindestens einer Signalschablone je Einzelschritt des Fertigungsverfahrens, wobei jede Signalschablone aus den Steuerbefehlen der Einzelschritte generiert wird, und jede Signalschablone einem theoretischen Signalverlauf eines bei Ausführung des Fertigungsverfahrens messtechnisch erfassbaren Parameters entspricht; c) Messen eines Signalverlaufs mindestens eines Parameters je Einzelschritt während der Ausführung desselben; d) Vergleichen des oder jedes gemessenen Signalverlaufs mit der jeweiligen rechnerisch generierten Signalschablone, wobei dann, wenn der gemessene Signalverlauf um mehr als eine bestimmte Toleranz von der Signalschablone abweicht, auf ein qualitativ schlechtes Fertigungsverfahren geschlossen wird.
(EN)The invention relates to a method for monitoring a production process with regard to quality, comprising at least the following steps: a) breaking down the production process into a sequence of individual steps, defined by a sequence of control commands for a production programme for carrying out the production process on a machine tool, b) generating at least one signal template per individual step of the production process from the control commands for the individual steps, each signal template corresponding to a theoretical signal curve for a parameter which may be measured on executing the production process, c) measurement of a signal curve for at least one parameter per individual step during said execution, d) comparison of the or each measured signal curve with the respective computer generated signal template, wherein a qualitatively poor production process is determined if the measured signal curve differs from the signal template by more than a given tolerance.
(FR)L'invention concerne un procédé permettant de surveiller la qualité d'un procédé de fabrication comprenant les étapes suivantes: a) fractionnement dudit procédé de production en une suite d'étapes individuelles, qui sont définies par une séquence d'ordres de commande d'un programme de fabrication, lequel permet de réaliser le procédé de fabrication sur une machine-outil; b) production d'au moins un mdoèle de signaux pour chaque étape individuelle du procédé de fabrication, chaque modèle pouvant être produit à partir des ordres de commande des étapes individuelle, et chaque modèle correspond à la variation des signaux théorique d'un paramètre pouvant être déterminé techniquement grâce à des mesures lors de la réalisation du procédé de fabrication; c) mesure d'une modification de signaux d'au moins un paramètre de chaque étape individuelle pendant sa réalisation; d) comparaison de la variation du signal mesurée avec le modèle de signaux produit de manière théorique, le procédé de fabrication étant déterminé comme mauvais, lorsque la différence entre la variation de signaux mesurée et le modèle de signaux dépasse une limite maximale déterminée,.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)