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1. (WO2008011849) VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINER EINE RASTERSONDENMIKROSKOPEINRICHTUNG AUFWEISENDEN MESSANORDNUNG UND MESSANORDNUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2008/011849    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE2006/001648
Veröffentlichungsdatum: 31.01.2008 Internationales Anmeldedatum: 19.09.2006
IPC:
G01Q 10/00 (2010.01), G01Q 10/02 (2010.01), G01Q 30/14 (2010.01), G01Q 60/42 (2010.01)
Anmelder: JPK INSTRUMENTS AG [DE/DE]; Bouchéstrasse 12, 12435 Berlin (DE) (For All Designated States Except US).
POOLE, Kate [AU/DE]; (DE) (For US Only).
KNEBEL, Detlef [DE/DE]; (DE) (For US Only).
JÄHNKE, Torsten [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: POOLE, Kate; (DE).
KNEBEL, Detlef; (DE).
JÄHNKE, Torsten; (DE)
Vertreter: BOEHMERT & BOEHMERT; Bittner, Thomas, L., Hollerallee 32, 28209 Bremen (DE)
Prioritätsdaten:
PCT/DE2006/001296 25.07.2006 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUM BETREIBEN EINER EINE RASTERSONDENMIKROSKOPEINRICHTUNG AUFWEISENDEN MESSANORDNUNG UND MESSANORDNUNG
(EN) METHOD FOR OPERATING A MEASURING ARRANGEMENT HAVING A SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE AND A MEASURING ARRANGEMENT
(FR) PROCÉDÉ DE COMMANDE D'UNE INSTALLATION DE MESURE COMPORTANT UN MODULE DE MICROSCOPE-SONDE À BALAYAGE ET INSTALLATION DE MESURE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben einer eine Rastersondenmikroskopeinrichtung aufweisenden Meßanordnung, wobei bei dem Verfahren mit einer Verlagerungseinrichtung (50, 52) eine in einem Meßsondenabschnitt mit mindestens einer Sondensubstanz (10, 20) beladene Meßsonde (1) der Rastersondenmikroskopeinrichtung und eine Aufnahme für eine Probe (4; 30), mit der die mindestens eine Sondensubstanz (10, 20) bei einer rastersondenmikroskopischen Messung in Wechselwirkung tritt, innerhalb eines von mehreren, mit Hilfe der Verlagerungseinrichtung (50, 52) einnehmbaren Relativpositionen von Meßsonde (1) und Aufnahme aufgespannten Verlagerungsbereiches relativ zueinander bewegt werden und die Meßsonde (1) nach Gebrauch bei der rastersondenmikroskopischen Messung in dem Verlagerungsbereich verbleibend gereinigt wird.
(EN)The invention relates to a method for operating a measuring arrangement having a scanning probe microscope device, in which method a measuring probe (1), loaded in a measuring probe section with at least one probe substance (10, 20), of the scanning probe microscope device and a retainer for a probe (4; 30), with which the at least one probe substance (10, 20) interacts in a scanning probe microscope measurement, are moved in relation to one another using a displacement device (50, 52) within a displacement area which is defined by a plurality of relative positions, which can be assumed using the displacement device (50, 52), of measuring probe (1) and retainer, and the measuring probe (1) is cleaned in a manner in which it remains in the displacement area in the scanning probe microscope measurement after use.
(FR)L'invention concerne un procédé de commande d'une installation de mesure comportant un module de microscope-sonde à balayage. Dans le procédé avec un module de charge (50, 52), une sonde de mesure (1) du module de microscope-sonde à balayage, chargée d'au moins une substance de sonde (10, 20) dans une section de sonde de mesure, et un réceptacle pour un échantillon (4 ; 30) qui interagit avec la ou les substances de sonde (10, 20) pendant une mesure de microscopie par sonde à balayage, sont déplacés relativement l'un par rapport à l'autre dans une zone de charge définie par plusieurs positions relatives de la sonde de mesure (1) et du réceptacle pouvant être adoptées à l'aide du module de charge (50, 52) ; la sonde de mesure (1) est nettoyée après usage dans la mesure en microscopie par sonde à balayage sans quitter la zone de charge.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)