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1. (WO2008009472) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DICKENMESSUNG GROßFLÄCHIGER GLASSUBSTRATE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2008/009472    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2007/006486
Veröffentlichungsdatum: 24.01.2008 Internationales Anmeldedatum: 20.07.2007
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    17.12.2007    
IPC:
G01B 11/06 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
Anmelder: SCHOTT AG [DE/DE]; Hattenbergstrasse 10, 55122 Mainz (DE) (For All Designated States Except US).
ORTNER, Andreas [DE/DE]; (DE) (For US Only).
GERSTNER, Klaus [DE/DE]; (DE) (For US Only).
JUNG, Sascha [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: ORTNER, Andreas; (DE).
GERSTNER, Klaus; (DE).
JUNG, Sascha; (DE)
Vertreter: HERDEN, Andreas; Blumbach Zinngrebe, Alexandrastrasse 5, 65187 Wiesbaden (DE)
Prioritätsdaten:
10 2006 034 244.5 21.07.2006 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DICKENMESSUNG GROßFLÄCHIGER GLASSUBSTRATE
(EN) METHOD AND SYSTEM FOR THICKNESS MEASUREMENT OF LARGE-AREA GLASS SUBSTRATES
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR LA MESURE D'ÉPAISSEUR DE SUBSTRATS EN VERRE À GRANDE SURFACE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Um eine robuste und genaue Inline-Messung von Dickenprofilen transparenter Substrate zu ermöglichen, ist eine Vorrichtung zur Dickenmessung von transparenten flachen Substraten vorgesehen, umfassend zumindest zwei Meßköpfe und eine Traversiereinrichtung mit zwei Traversiereinheiten, an welchen die Meßköpfe befestigt und über das Substrat quer zu einer Vorschubrichtung der Glasscheibe bewegbar sind, wobei die Traversiereinheiten unabhängig voneinander bewegbar sind, sowie eine Steuereinrichtung, welche die Bewegung der Traversiereinheiten steuert, so daß die Traversiereinheiten im Betrieb phasenverschoben quer zur Vorschubrichtung des Substrats von Rand zu Rand bewegt werden, sowie eine Auswerteeinrichtung, welche anhand der Daten der Meßköpfe Dickenprofile erstellt.
(EN)In order to facilitate robust and accurate inline measurement of thickness profiles of transparent substrates, a system for the thickness measurement of transparent flat substrates is provided, comprising at least two measuring heads and a traversing device with two traversing units to which the measuring heads are attached and which are movable, independent of one another, over the substrate at an angle to a feed direction of the glass sheet. Said system also comprises a control device which controls the movement of the traversing units in such a way that, in operation, the traversing units are moved from edge to edge, offset in phase and at an angle to the feeding direction of the substrate, and also an analysis device which determines thickness profiles, with the aid of the data from the measuring heads.
(FR)L'objectif de l'invention est la mesure en ligne, robuste et précise des profils d'épaisseur de substrats transparents. À cet effet, un dispositif pour la mesure d'épaisseur de substrats transparents plats comprend au moins deux têtes de mesure et un dispositif de traverse avec deux unités de traverse, sur lesquelles la tête de mesure est fixée et qui sont mobiles par rapport au substrat, transversalement à un dispositif d'avancement de la plaque en verre, les unités de traverse étant mobiles indépendamment l'une de l'autre ; un dispositif de réglage règle le déplacement des unités de traverse, de sorte que les unités de traverse sont déplacées bord à bord, en fonctionnement, de manière déphasée, transversalement à la direction d'avancement du substrat ; et un dispositif d'évaluation établit le profil d'épaisseur à l'aide des données des têtes de mesure.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)