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1. WO2007090447 - FINGERTESTER ZUM PRÜFEN VON UNBESTÜCKTEN LEITERPLATTEN UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN UNBESTÜCKTER LEITERPLATTEN MIT EINEM FINGERTESTER

Veröffentlichungsnummer WO/2007/090447
Veröffentlichungsdatum 16.08.2007
Internationales Aktenzeichen PCT/EP2006/010964
Internationales Anmeldedatum 15.11.2006
IPC
G01R 1/067 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
RMessen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
1Einzelheiten von Instrumenten oder Anordnungen der von den Gruppen G01R5/-G01R13/118
02Allgemeine bauliche Einzelheiten
06Messleitungen; Messsonden
067Messsonden
G01R 31/28 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
RMessen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
CPC
G01R 1/06794
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
06794Devices for sensing when probes are in contact, or in position to contact, with measured object
G01R 1/07392
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
1Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
02General constructional details
06Measuring leads; Measuring probes
067Measuring probes
073Multiple probes
07392manipulating each probe element or tip individually
G01R 31/2805
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
2805Bare printed circuit boards
G01R 31/2808
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
Anmelder
  • ATG LUTHER & MAELZER GMBH [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • ROMANOV, Victor [RU]/[DE] (UsOnly)
Erfinder
  • ROMANOV, Victor
Vertreter
  • GANAHL, Bernhard
Prioritätsdaten
10 2006 006 255.810.02.2006DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) FINGERTESTER ZUM PRÜFEN VON UNBESTÜCKTEN LEITERPLATTEN UND VERFAHREN ZUM PRÜFEN UNBESTÜCKTER LEITERPLATTEN MIT EINEM FINGERTESTER
(EN) FINGER TESTER FOR TESTING UNPOPULATED PRINTED CIRCUIT BOARDS AND METHOD FOR TESTING UNPOPULATED PRINTED CIRCUIT BOARDS USING A FINGER TESTER
(FR) TESTEUR À PATTES POUR CONTRÔLER DES CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS NON ÉQUIPÉES ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE DE CARTES DE CIRCUITS IMPRIMÉS NON ÉQUIPÉES AVEC UN TESTEUR À PATTES
Zusammenfassung
(DE)
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Fingerstester zum Prüfen von unbestückten Leiterplatten mit zumindest zwei Prüffingern (1), die jeweils eine Prüfsonde (2) besitzen, wobei oberhalb einer jeden Prüfsonde (2) je eine Detektionseinrichtung (20) zum optischen Erfassen der Position von zumindest einer Kontaktspitze der Prüfsonde (2) vorhanden ist. Die Detektionseinrichtungen (20) der zumindest zwei Prüfsonden (1) sind in unterschiedlichen vertikal beabstandeten Ebenen angeordnet, so dass zumindest Bereiche der Detektionseinrichtungen (20), die oberhalb der Prüffinger (2) angeordnet sind, vertikal fluchtend berührungslos übereinander positionierbar sind.
(EN)
The present invention relates to a finger tester which is intended to test unpopulated printed circuit boards and has at least two test fingers (1) each having a test probe (2), wherein a respective detection device (20) for optically detecting the position of at least one contact tip of the test probe (2) is provided above each test probe (2). The detection devices (20) of the at least two test probes (2) are arranged on different planes which are at a distance from one another in the vertical direction, with the result that at least regions of the detection devices (20), which are arranged above the test fingers (1), can be contactlessly positioned above one another such that they are vertically aligned.
(FR)
La présente invention concerne un testeur à pattes pour contrôler des cartes de circuits imprimés non équipées comprenant au moins deux pattes de contrôle (1) qui possèdent respectivement une sonde de contrôle (2). Un dispositif de détection (20) destiné à la détection optique de la position d'au moins une pointe de contact de la sonde de contrôle (2) se trouve au-dessus de chaque sonde de contrôle (2). Les dispositifs de détection (20) desdites sondes de contrôle (1) se trouvent dans des plans différents, verticalement éloignés l'un de l'autre, de sorte qu'au moins les zones des dispositifs de détection (20) qui se trouvent au-dessus des pattes de contrôle (2) puissent être positionnées l'une au-dessus de l'autre sans contact et alignées dans le sens vertical.
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