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1. (WO2007045546) VIRTUELLE TEMPERATURMESSSTELLE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2007/045546    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2006/066704
Veröffentlichungsdatum: 26.04.2007 Internationales Anmeldedatum: 25.09.2006
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    30.07.2007    
IPC:
G01K 17/20 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
ZAVISKA, Oldrich [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: ZAVISKA, Oldrich; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34, 80506 München (DE)
Prioritätsdaten:
05022820.4 19.10.2005 EP
Titel (DE) VIRTUELLE TEMPERATURMESSSTELLE
(EN) VIRTUAL TEMPERATURE MEASURING POINT
(FR) POINT DE MESURE DE TEMPERATURE VIRTUELLE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen eines Temperaturprofils und der integralen mittleren Temperatur und/oder Achsentemperatur in einer dicken Wand oder Welle, wobei zur Ermittlung einer mittleren integralen Wandtemperatur bei Aufheiz- oder Abkühlvorgängen in einem Mehrschichtenmodell aus der mittleren Temperatur jeder Schicht die mittlere integrale Wandtemperatur berechnet wird. Dazu wird erfindungsgemäß indem zur Ermittlung der mittleren integralen Wandtemperatur bei Aufheiz- oder Abkühlvorgängen ein Mehrschichtenmodell herangezogen wird, das auf die mittlere Temperatur jeder Schicht zurückgreift.
(EN)The invention relates to a method for determining a temperature profile and the integral mean temperature and/or axis temperature in a thick wall or shaft. In order to determine a mean integral wall temperature during heating or cooling processes in a multilayer model, the mean integral wall temperature is calculated from the mean temperature of each layer. A multilayer model is used for determining the mean integral wall temperature during heating or cooling processes and draws upon the mean temperature of each layer.
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination d'un profil de température et de la température moyenne intégrale et/ou de la température axiale dans une paroi épaisse ou un arbre, procédé dans lequel, pour la détermination d'une température moyenne intégrale de paroi, lors de processus de chauffe ou de refroidissement dans un modèle multicouche, on calcule, à partir de la température moyenne de chaque couche, la température moyenne intégrale de paroi. L'invention est caractérisée en ce que pour la détermination de la température moyenne intégrale de paroi lors de processus de chauffe ou de refroidissement, on fait intervenir un modèle multicouche qui se réfère à la température moyenne de chaque couche.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)