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1. (WO2007039371) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR RECHNERGESTÜTZTEN ANALYSE DER ZUVERLÄSSIGKEIT EINES TECHNISCHEN SYSTEMS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2007/039371    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2006/065968
Veröffentlichungsdatum: 12.04.2007 Internationales Anmeldedatum: 04.09.2006
IPC:
G06F 11/00 (2006.01), G05B 23/02 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
SUTOR, Ariane [DE/DE]; (DE) (For US Only).
EHLERS, Petra [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KLEIN, Wolfram [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: SUTOR, Ariane; (DE).
EHLERS, Petra; (DE).
KLEIN, Wolfram; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34, 80506 München (DE)
Prioritätsdaten:
10 2005 046 945.0 30.09.2005 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR RECHNERGESTÜTZTEN ANALYSE DER ZUVERLÄSSIGKEIT EINES TECHNISCHEN SYSTEMS
(EN) METHOD AND DEVICE FOR THE COMPUTER-ASSISTED ANALYSIS OF THE RELIABILITY OF A TECHNICAL SYSTEM
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE INFORMATISEE DE LA FIABILITE D'UN SYSTEME TECHNIQUE ET SYSTEME TECHNIQUE CORRESPONDANT
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur rechnergestützten Analyse der Zuverlässigkeit eines technischen Systems sowie eine entsprechende Vorrichtung und ein entsprechendes technisches System. Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur rechnergestützten Analyse der Zuverlässigkeit eines technischen Systems mit einer Mehrzahl von technischen Komponenten (Bl, B2, B3) , bei dem: die Zuverlässigkeiten der Komponenten (Bl, B2, B3) jeweils durch eine Komponentenfunktion (f1(t, t1), f2 (t, t2), f3 (t, t3)) beschrieben werden, die von wenigstens einem Parameter (t) und einem der Komponente (Bl, B2, B3) zugeordneten und die Zuverlässigkeit der Komponente beeinflussenden Parameterintervall (t1, t2, t3) des wenigstens einen Parameters (t) abhängt; aus den Zuverlässigkeiten der Komponenten (Bl, B2, B3) eine Systemzuverlässigkeit (F (t, tl, t2, t3) ) des technischen Systems ermittelt wird; für wenigstens einen Teil der Komponenten (Bl, B2, B3) jeweils ein Veränderungsmaß (d/dtl F(t, tl, t2, t3) , d/dt2 F(t, tl, t2, t3), d/dt3 F(t, tl, t2, t3)) bestimmt wird, welches ein Maß für die Veränderung der Systemzuverlässigkeit (F (t, tl, t2, t3)) in Abhängigkeit von der Veränderung des Parameterintervalls (tl, t2, t3) der jeweiligen Komponente ist; für wenigstens einen Teil der Komponenten jeweils aus dem Veränderungsmaß (d/dtl F(t, tl, t2, t3) , d/dt2 F(t, tl, t2, t3), d/dt3 F(t, tl, t2, t3)) eine Einflussgröße der jeweiligen Komponente (Bl, B2, B3) auf die Systemzuverlässigkeit (F(t, tl, t2, t3)) ermittelt wird.
(EN)The invention relates to a method for the computer-assisted analysis of the reliability of a technical system comprising a plurality of technical components (Bl, B2, B3). According to said method, the reliabilities of the components (Bl, B2, B3) are respectively described by a component function (f1(t, t1), f2 (t, t2), f3 (t, t3) ) that depends on at least one parameter (t) and a parameter interval (t1, t2, t3) of the at least one parameter (t), which is associated with the components (Bl, B2, B3) and influences the reliability of the components; a system reliability (F (t, tl, t2, t3) ) of the technical system is determined from the reliabilities of the components (Bl, B2, B3); a variation value (d/dtl F(t, tl, t2, t3), d/dt2 F(t, tl, t2, t3), d/dt3 F(t, tl, t2, t3) ) is respectively determined for at least some of the components f& (Bl, B2, B3), constituting a value for the variation of the system reliability (F (t, tl, t2, t3) ) according to the variation of the parameter interval (tl, t2, t3) of the respective component; and an influence quantity relating to the influence of the respective components (Bl, B2, B3) on the system reliability (F(t, tl, t2, t3)) is respectively determined for at least some of the components from the variation value (d/dtl F(t, tl, t2, t3), d/dt2 F(t, tl, t2, t3), d/dt3 F(t, tl, t2, t3) ).
(FR)L'invention concerne un procédé d'analyse informatisée de la fiabilité d'un système technique, un dispositif associé et un système technique correspondant. Le procédé d'analyse informatisée de la fiabilité d'un système technique comprenant une pluralité d'éléments techniques (Bl, B2, B3) consiste à décrire les fiabilités des éléments (Bl, B2, B3) par une fonction (f1(t, t1), f2 (t, t2), f3 (t, t3) ) de ces éléments, laquelle dépend d'au moins un paramètre (t) et de son intervalle paramétrique (t1, t2, t3) associé aux éléments (Bl, B2, B3) et influençant leur fiabilité. A partir de ces fiabilités des éléments (Bl, B2, B3) est déterminée une fiabilité (F (t, tl, t2, t3) ) du système technique et, pour au moins une partie des éléments (Bl, B2, B3), une grandeur de variation (d/dtl F(t, tl, t2, t3), d/dt2 F(t, tl, t2, t3), d/dt3 F(t, tl, t2, t3) ), cette dernière représentant la variation de la fiabilité (F (t, tl, t2, t3) ) du système en fonction de la variation de l'intervalle paramétrique (tl, t2, t3) de chaque élément. Pour une partie au moins des éléments est déterminée, sur la base de la grandeur de variation (d/dtl F(t, tl, t2, t3), d/dt2 F(t, tl, t2, t3), d/dt3 F(t, tl, t2, t3) ), une valeur d'influence de chaque élément (Bl, B2, B3) sur la fiabilité (F(t, tl, t2, t3)) du système.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)