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1. (WO2007036531) SCANMIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR PROBENMANIPULATION MIT EINEM MANIPULATIONSLICHTSTRAHL IN EINEM SCANMIKROSKOP
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2007/036531    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2006/066782
Veröffentlichungsdatum: 05.04.2007 Internationales Anmeldedatum: 27.09.2006
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/32 (2006.01)
Anmelder: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Strasse 17-37, 35578 Wetzlar (DE) (For All Designated States Except US).
KNEBEL, Werner; (DE) (For US Only)
Erfinder: KNEBEL, Werner; (DE)
Vertreter: STAMER, Harald; Leica Microsystems GmbH, Ernst-Leitz-Strasse 17-37, 35578 Wetzlar (DE)
Prioritätsdaten:
10 2005 046 638.9 29.09.2005 DE
Titel (DE) SCANMIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR PROBENMANIPULATION MIT EINEM MANIPULATIONSLICHTSTRAHL IN EINEM SCANMIKROSKOP
(EN) SCANNING MICROSCOPE AND METHOD FOR MANIPULATING SAMPLES BY MEANS OF A MANIPULATING LIGHT BEAM IN A SCANNING MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE À BALAYAGE ET PROCÉDÉ DE MANIPULATION D'ÉCHANTILLON À L'AIDE D'UN FAISCEAU LUMINEUX DE MANIPULATION DANS UN MICROSCOPE À BALAYAGE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Es ist ein Scanmikroskop (1) mit einer Lichtquelle (3) offenbart, die einen Beleuchtungslichtstrahl (5) zum Beleuchten einer Probe (7) emittiert. Ebenso ist eine weitere Lichtquelle (13) vorgesehen, die einen Manipulationslichtstrahl (15) erzeugt, der auf der Probe (7) einen Manipulationslichtstrahlfokus (18) ausgebildet hat. Der Manipulationslichtstrahlfokus (18) und der Beleuchtungslichtstrahl (5) werden zusammen mit der Strahlablenkeinrichtung (11) über oder durch die Probe (7) geführt. Der weiteren Lichtquelle (13) ist ein optisches Mittel (20) nachgeschaltet, mit dem die Größe des Manipulationslicht- Strahlfokus (18) veränderbar ist.
(EN)Disclosed is a scanning microscope (1) comprising a light source (3) which emits a light beam (5) for illuminating a sample (7). An additional light source (13) is provided which generates a manipulating light beam (15) that forms a manipulating light beam focus (18) on the sample (7). The manipulating light beam focus (18) and the illuminating light beam (5) are guided across or through the sample (7) along with a beam deflection device (11). An optical means (20) which allows the size of the manipulating light beam focus (18) to be modified is mounted downstream from the additional light source (13).
(FR)Microscope à balayage (1) pourvu d'une source de lumière (3) qui émet un faisceau lumineux d'éclairage (5) pour éclairer un échantillon (7). Ledit microscope comporte en outre une autre source de lumière (13) qui produit un faisceau de lumière de manipulation (15) formant sur l'échantillon (7) un point focal (18) de faisceau lumineux de manipulation. Le point focal (18) de faisceau lumineux de manipulation et le faisceau lumineux d'éclairage (5) sont guidés sur l'échantillon (7) ou à travers ce dernier à l'aide du dispositif de déviation de faisceau (11). Un élément optique (20) à l'aide duquel la grandeur du point focal (18) du faisceau lumineux de manipulation peut être modifiée est situé en aval de l'autre source de lumière (13).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)