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1. WO2006012875 - VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER GÜTE EINES TESTPROGRAMMS

Anmerkung: Text basiert auf automatischer optischer Zeichenerkennung (OCR). Verwenden Sie bitte aus rechtlichen Gründen die PDF-Version.

[ DE ]

Patentansprüche

1. Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für mittels eines Computers simulierte integrierte Schaltungen, umfassend

(a) das Bereitstellen einer ersten Datei, die eine integrierte Schaltung beschreibt;

(b) das Simulieren einer mutierten integrierten Schaltung, die durch Einbau von Mutationen in die in der ersten Datei beschriebene integrierte Schaltung erhalten wird;

(c) das Zuführen von Eingangswerten zu der mutierten integrierten Schaltung und Erfassen der für diese Eingangswerte von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangswerte;

(d) den Vergleich der von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangswerte mit Erwartungswerten, die von dem Testprogramm bereitgestellt werden, wobei die Erwartungswerte in einem Referenzsystem generiert worden sind; und

(e) die Bewertung der Güte des Testprogramms anhand der Vergleichsergebnisse.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Schritt (b) folgende Schritte umfaßt: (bl) das Erzeugen einer zweiten Datei, die die mutierte integrierte Schaltung beschreibt, aus der ersten Datei durch den Einbau der Mutationen in die erste Datei; und

(b2) das Simulieren der mutierten integrierten Schaltung.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Schritt (b) folgende Schritte umfaßt:

(bl) das Einlesen der ersten Datei in das Simulationsprogramm des Computers;

(b2) das Abbilden der in der ersten Datei beschriebenen integrierten Schaltung in der Simulationseinheit;

(b3) den Einbau der Mutationen in die in der Simulationseinheit abgebildete integrierte Schaltung, wodurch die mutierte integrierte Schaltung erhalten wird; und
(b4) das Simulieren der mutierten integrierten Schaltung.

4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Datei aus einer Vielzahl von Unterdateien besteht, die zusammen die integrierte mutierte Schaltung beschreiben.

5. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Einbau der Mutationen in die integrierte Schaltung folgende Schritte umfaßt:

(i) Analyse der ersten Datei, um die Stellen in der ersten Datei aufzufinden, an denen Mutationen eingebaut werden können, und für jede aufgefundene Stelle den Typ der Mutation zu bestimmen, der an dieser Stelle eine Änderung des Verhaltens der integrierten Schaltung be- wirkt;

(ii) Analyse der Tests, die das Testprogramm ausführen kann, um die Tests auszuwählen, die Eingangswerte bereitstellen, die eine Mutation ansprechen können; und

(iii) Auswahl der Mutationen, die an einer gemäß Schritt (i) aufgefundenen Stelle eine Änderung des Verhaltens der integrierten Schaltung bewirken und die durch einen der Tests angesprochen werden können, und Erzeugen der mutierten integrierten Schaltung.

6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß es ferner das Zusammenstellen der Tests, die eine der ausgewählten Mutation zumindest einmal ansprechen kön- nen, zu einem Testset umfaßt.

7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Ergebnis des Vergleiches negativ ist, wenn der für eine Mutation erhaltene Ausgangswert dem für den Ausgangswert generierten Erwartungswert gleicht .

8. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Ergebnis des Vergleiches positiv ist, wenn der für eine Mutation erhaltene Ausgangswert ungleich dem für den Ausgangswert generierten Erwar- tungswert ist.

9. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Güte des Testprogramms aus dem Verhältnis der Anzahl der positiven Vergleichsergebnisse zur Anzahl der negativen Vergleichsergebnisse ermittelt wird.

10. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Güte des Testprogramms mit gut bewertet wird, wenn für jede eingebaute Mutation ein positives Vergleichsergebnis erhalten wird.

11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Güte des Testprogramms mit gut be- wertet wird, wenn die Anzahl der Mutationen, für die ein positives Vergleichsergebnis erhalten wird, einen vorgegebenen Wert übersteigt.

12. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn das Ergebnis des Vergleiches für eine Mutation negativ ist, der Erwartungswert für diese Mutation verändert wird und anschließend die Schritte (b) bis (e) wiederholt werden.

13. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn das Ergebnis des Vergleiches für eine Mutation negativ ist, die erste Datei verändert wird und anschließend die Schritte (b) bis (e) wiederholt werden.

14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß, wenn das Ergebnis des Vergleiches für eine Mutation negativ ist, Tests ausgewählt werden, die diese Mutation ansprechen und gegenüber den bisherigen Tests veränderte Eingangswerte bereitstellen, und an- schließend die Schritte (b) bis (e) wiederholt werden.

15. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die mutierte integrierte Schaltung mittels eines Hardwarebeschleunigers realisiert wird.