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1. WO2006012875 - VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER GÜTE EINES TESTPROGRAMMS

Veröffentlichungsnummer WO/2006/012875
Veröffentlichungsdatum 09.02.2006
Internationales Aktenzeichen PCT/DE2005/001349
Internationales Anmeldedatum 28.07.2005
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen 01.06.2006
IPC
G06F 17/50 2006.01
GPhysik
06Datenverarbeitung; Rechnen oder Zählen
FElektrische digitale Datenverarbeitung
17Digitale Rechen- oder Datenverarbeitungsanlagen oder –verfahren, besonders ausgebildet für spezielle Funktionen
50Computergestütztes Entwurfsystem
CPC
G06F 30/33
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
30Computer-aided design [CAD]
30Circuit design
32Circuit design at the digital level
33Design verification, e.g. functional simulation or model checking
Anmelder
  • CERTESS S.A. (AllExceptUS)
  • GROSSE, Jörg [DE]/[DE] (UsOnly)
  • HAMPTON, Mark [NZ]/[FR] (UsOnly)
Erfinder
  • GROSSE, Jörg
  • HAMPTON, Mark
Vertreter
  • RIECHELMANN, Jens
Prioritätsdaten
10 2004 037 402.330.07.2004DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN ZUR BEWERTUNG DER GÜTE EINES TESTPROGRAMMS
(EN) METHOD FOR EVALUATING A TEST PROGRAM QUALITY
(FR) PROCEDE D'EVALUATION DE LA QUALITE D'UN PROGRAMME D'ESSAI
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bewertung der Güte eines Testprogramms für mittels eines Computers simulierte integrierte Schaltungen, umfassend (a) das Bereitstellen einer ersten Datei, die eine integrierte Schaltung beschreibt; (b) das Simulieren einer mutierten integrierten Schaltung, die durch Einbau von Mutationen in die in der ersten Datei beschriebene integrierte Schaltung erhalten wird; (c) das Zuführen von Eingangswerten zu der mutierten integrierten Schaltung und Erfassen der für diese Eingangswerte von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangswerte; (d) den Vergleich der von der mutierten integrierten Schaltung erzeugten Ausgangswerte mit Erwartungswerten, die von dem Testprogramm bereitgestellt werden, wobei die Erwartungswerte in einem Referenzsystem generiert worden sind; und (e) die Bewertung der Güte des Testprogramms anhand der Vergleichsergebnisse.
(EN)
The invention relates to a method for evaluating an integrated circuit test program simulated with the aid of a computer and consisting (a) in providing a first file describing an integrated circuit, (b) in simulating a mutant integrated circuit obtainable by introducing mutations into the integrated circuit described at the first stage, (c) in supplying input values to the mutant integrated circuit and detecting output values produced by the mutant integrated circuit for said input values, (d) in comparing the output values produced by the mutant integrated circuit with expected values produced by the test program, wherein said expected values are generated in a reference system and (e) in evaluating the test program quality by means of comparison results.
(FR)
L'invention concerne un procédé d'évaluation de la qualité d'un programme d'essai pour des circuits intégrés, simulés au moyen d'un ordinateur, procédé comprenant les étapes suivantes : (a) mise à disposition d'un premier fichier décrivant un circuit intégré ; (b) simulation d'un circuit intégré muté, obtenu par insertion de mutations dans le circuit intégré décrit dans le premier fichier ; (c) amenée de valeurs d'entrée au circuit intégré muté, et détection des valeurs de sortie produites par le circuit intégré muté, pour ces valeurs d'entrée ; (d) comparaison des valeurs de sortie produites par le circuit intégré muté, avec des valeurs estimées qui sont préparées par le programme d'essai, les valeurs estimées étant générées dans un système de référence, et (e) évaluation de la qualité du programme d'essai, au moyen des résultats de la comparaison.
Auch veröffentlicht als
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