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1. (WO2006008304) RASTERMIKROSKOP
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2006/008304    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP2005/053505
Veröffentlichungsdatum: 26.01.2006 Internationales Anmeldedatum: 20.07.2005
IPC:
G02B 21/00 (2006.01)
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Strasse 17-37, 35578 Wetzlar (DE) (For All Designated States Except US).
KNEBEL, Werner [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WIDZGOWSKI, Bernd [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: KNEBEL, Werner; (DE).
WIDZGOWSKI, Bernd; (DE)
Vertreter: REICHERT, Werner F.; Leica Microsystems AG, Corporate Patents + Trademarks Department, Ernst-Leitz-Strasse 17-37, 35578 Wetzlar (DE)
Prioritätsdaten:
10 2004 035 340.9 21.07.2004 DE
Titel (DE) RASTERMIKROSKOP
(EN) SCANNING MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE A BALAYAGE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Ein Rastermikroskop mit einer Strahlablenkeinrichtung (11), die einen Beleuchtungslichtstrahl (5) über bzw. durch eine Probe (21) führt, und mit einem Detektor (33) zum Empfangen von von der Probe ausgehendem Detektionslicht (23), weist einen Auskoppelport (67) oder einen weiteren Detektor (37) und eine Umlenkvorrichtung (27) auf, die mit der Strahlablenkeinrichtung synchronisiert ist und die das Detektionslicht in Abhängigkeit von der Ablenk-Stellung der Strahlablenkeinrichtung entweder zu dem Detektor oder zu dem Auskoppelport beziehungsweise zu dem weiteren Detektor lenkt.
(EN)The invention relates to a scanning microscope comprising a beam deflecting device (11), which directs an illuminating light beam (5) over or through a sample (21), and comprising a detector (33) for receiving detection light (23) exiting the sample. The scanning microscope comprises an extracting port (67) or another detector (37) and comprises a redirecting device (27), which is synchronized with the beam deflecting device and which directs the detection light according to the deflecting position of the beam deflecting device either to the detector or to the extracting port or to the other detector.
(FR)L'invention concerne un microscope à balayage comportant un dispositif de déflexion de faisceau (11), qui guide un faisceau lumineux d'éclairage (5) sur ou à travers un échantillon (21), ainsi qu'un détecteur (33) pour recevoir la lumière de détection (23) provenant de l'échantillon. Ledit microscope de balayage présente un port de déclenchement (67) ou un autre détecteur (37) et un dispositif de déviation (27), qui est synchronisé avec le dispositif de déflexion de faisceau et qui dévie la lumière de détection, en fonction de la position de déflexion du dispositif de déflexion de faisceau, soit en direction du détecteur, soit en direction du port de déclenchement ou en direction d'un autre détecteur.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)