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1. (WO2005098354) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR VERMESSUNG EINES MESSOBJEKTS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2005/098354    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2005/002960
Veröffentlichungsdatum: 20.10.2005 Internationales Anmeldedatum: 19.03.2005
IPC:
G01B 21/04 (2006.01)
Anmelder: LUGTENBURG, Jan, Bernd [DE/DE]; (DE)
Erfinder: LUGTENBURG, Jan, Bernd; (DE)
Vertreter: RUFF, WILHELM, BEIER, DAUSTER & PARTNER; Kronenstrasse 30, 70174 Stuttgart (DE)
Prioritätsdaten:
10 2004 017 172.6 02.04.2004 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR VERMESSUNG EINES MESSOBJEKTS
(EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AN OBJECT FOR MEASUREMENT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR EFFECTUER DES MESURES SUR UN OBJET
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Vermessung eines Messobjekts, das zumindest eine Referenzstruktur zur Definition eines objektfesten Objektkoordinatensystems aufweist, mit Hilfe eines Messsystems, das mindestens ein Sensorsystem zur Erfassung einer Kontur des Messobjekts in einem Messkoordinatensystem umfasst. Erfindungsgemäss wird das Messobjekt in einer Messposition im Erfassungsbereich des Sensorsystems positioniert, die Lage des Objektkoordinatensystems anhand der Referenzstruktur festgestellt, das Objektkoordinatensystem mit dem Messkoordinatensystem verknüpft, das Sensorsystem um eine Drehachse relativ zum Messobjekt zur Ermittlung von Konturdaten gedreht und eine Verarbeitung der Konturdaten unter Berücksichtigung der Lage des Objektkoordinatensystems in einer Auswerteeinheit durchgeführt. Einsatz zur Konturermittlung.
(EN)The invention relates to a method and device for measuring an object for measurement, comprising at least one reference structure for the definition of an object coordinate system, fixed with relation to the object, by means of a measuring system, which comprises at least one sensor system for recording a contour of the object for measuring in a measurement coordinate system. According to the invention, the object for measurement is placed in a measuring position in the recording region of the sensor system, the position of the object coordinate system is fixed by means of the reference structure, the object coordinate system is linked to the measurement coordinate system, the sensor system is turned about a rotation axis relative to the object for measurement, in order to determine contour data and a processing of the contour data carried out in an analytical unit, taking into account the position of the object coordinate system. The invention further relates to an application for contour determination.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour effectuer des mesures sur un objet, comprenant au moins une structure de référence qui permet de définir un système de coordonnées objet fixe par rapport à l'objet, au moyen d'un système de mesure qui comprend au moins un système de détection pour détecter un contour de l'objet dans un système de coordonnées de mesure. Selon l'invention, l'objet est mis dans une position de mesure dans une zone de détection du système de détection, l'emplacement du système de coordonnées objet est établit grâce à la structure de référence, le système de coordonnées objet est combiné au système de coordonnées de mesure, le système de détection est mis en rotation par rapport à l'objet, autour d'une axe de rotation, afin de déterminer des données de contour, et un traitement des données de contour, est réalisé dans une unité d'évaluation, en prenant en considération l'emplacement du système de coordonnées objet. L'invention s'applique à la détermination de contours.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)